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NEC 量測入選IEC 國際標準,評估對策元件更精準

時間:2017-08-11 17:33來源:COMPOTECHAsia 作者:任苙萍 點擊:
 

照片人物:NEC 嵌入式業務部門資深經理Takashi Kudo( 左)、企業事業服務及技術部門助理經理Mikio Kikuchi( 中)、營業本部明石京( 右)
 
世人對於日本電氣株式會社(NEC) 的認識多緣於消費電子,但其實它也是量測儀器的重要供應商,一開始是基於自用需求、為減少自有產品的EMI 發展而來,「磁場探棒」是其最早的研發成果。NEC 企業事業服務及技術部門助理經理Mikio Kikuchi( 菊池美喜雄)表示,由NEC 開發的磁場探棒技術規範已提交IEC 組織,先後正式名列IEC61967-6 國際標準及IEC61967-3 技術範,毫無懸念,NEC 自家「EMC 視覺化掃描儀系統」理所當然具有國際水準——磁場探棒符合IEC61967-6、掃描儀符合IEC61967-3。
(責任編輯:jane)
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