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愛德萬測試將在1月31日-2月2日於首爾舉行的SEMICON Korea展示最新先進測試解決方案

本文作者:愛德萬測試       點擊:1244 2018-01-25 09:31
前言:
IC測試設備龍頭將展示各式解決方案、於測試論壇發表論文並贊助產業領袖餐會
2018年1月24日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation)(TSE: 6857) 將在1月31日至2月2日於首爾COEX會展中心盛大登場的SEMICON Korea展示創新測試解決方案。愛德萬測試也將是今年度SEMICON Korea和期間產業領袖餐會 (Industry Leadership Dinner) 的白金級贊助商。餐會將於1月31日晚間舉行。
 
產品展示
愛德萬測試將在位於C展館的第510號攤位展示先進IC測試解決方案,包括專為次世代RF IC設計的V93000 Wave Scale平台、針對高速記憶體IC測試的V93000 HSM16G系統,以及為顯示器驅動IC (DDI) 打造的T6391測試機台。

愛德萬測試在今年的展覽攤位上將展示T2000平台的各種配置,譬如小型測試機台T2000 AiR,是為了因應物聯網 (IoT) 裝置量少但高度整合 (Low Volume and High Mix) 的系統級測試需求;為PMIC和24位元音訊解編碼器測試需求所設計的T2000 IPS;用於高速CMOS影像感測器測試的T2000 ISS;以及T2000 RECT680 0.35mm pitch IC高階測試介面。

在創新測試解決方案方面,愛德萬測試將展示由EVA100測量系統與HA7200組成的溫度與壓力測試單位,用於類比、數位和混合訊號元件量產級測試;專為測試高效能通用快閃儲存裝置和固態硬碟 (SSD) 而設計,成本效益表現優異的T5851系統;以及瞄準SSD測試需求,富彈性的MPT3000系列測試機台。此外,愛德萬測試大受好評的T5503系列也將於會上展出,該系列針對行動應用和伺服器所使用之次世代記憶體IC提供最佳解決方案。

除此之外,愛德萬測試亦將展示探針卡、高速記憶體裝置介面以及電子束度量與微影解決方案,包括能滿足1X奈米節點技術所需解析度的F7000電子束微影工具,和E3310、E3640、E5610掃描式電子顯微鏡 (SEM) 度量系統。

透過現場示範、數位圖像說明和詳細的產品展示,與會貴賓將能深入了解愛德萬測試專為韓國市場打造的最新IC測試技術,以及通過嚴謹測試的解決方案。
 
論文發表
來自愛德萬測試的Ok Su Kim將於1月31日 (三) 下午1:40,在COEX會展中心318室舉行的測試論壇,發表「第五代RF測試解決方案」(5-Gen, RF Testing Solutions) 技術論文。
 
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
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