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剖析生產測試資料

時間:2016-09-20 11:20來源:Optimal+ 作者:David Park 點擊:
每年,半導體公司需要採集數十萬億位元組的製造測試資料,但是這些資料的固有價值及其對利潤的影響卻在流失,而且這樣的情況只會越來越嚴重。物聯網設備的巨幅增長將進一步挑戰企業的能力:產品變得越來越複雜,而人們對品質的期望卻在飆升,這導致測試程式及其生成的資料以指數級增加。我們需要從不同來源與過程進行資料採集,RMA 管理與預防作業則需要保留數個月甚至數年的資料。
 
 

圖說: ptimal+ 開發的大數據基礎架構

 

(責任編輯:jane)
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