返回首頁
當前位置: 主頁 > 技術&應用 >

低電壓測試 –對元件進行嚴苛測試是好事

時間:2017-04-01 11:54來源:ams 作者:Peter Sarson、Andrea 點擊:
 

 圖:在-40oC 失敗的元件
 
無論是哪種晶片,一般來說在設計開始時很少、甚至是完全不會討論在極端溫度條件下的可靠性及運作情況。然而,一旦這個元件開始進入量產後,如果未被賦予正確的特性,則客戶將開始發現問題元件的存在,並啟動退貨材料授權(RMA)程序。此篇文章旨在說明透過一種創新方式,將能使用室溫測試來檢測唯有在負溫下才會發生的非揮發性記憶體(Non-Volatile Memory, NVM) 故障。
(責任編輯:jane)
(0)
0%
------分隔線----------------------------
發表評論
請遵守網路相關法規及一切使用網際網路之國際慣例,嚴禁發布違規言論。
評價:
表情:
用戶名:密碼: 驗證碼:點擊我更換圖片
推薦內容