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NI 將參展 2012 台北國際光電大展

本文作者:NI       點擊: 2012-06-13 10:31
前言:

2012611--量測自動化的領導廠商 – 美商國家儀器( National Instruments, NI) 將於 6/19()~6/21() 參加 2012 年台北國際光電大展。此次參展, NI 將針對研發驗證到實際產線測試端,所需要的各種不同目的與需求,提出相對應的解決方案。展會現場, NI 同時將展出 LED 多點測試機台,展現 NI 產品於光電產業的高適用性。

 

LED 產業為例,NI 完整的模組化儀器產品線,能幫助客戶建置客製化的測試設備,完整滿足 R&D 端驗證測試的需求,同時利用 PXI 平台高彈性的優勢,搭配 Switch 模組,以及 TestStand 高效能自動排程軟體,即可將測試功能轉移到產線,進行快速生產測試。也因此從研發驗證測試到產線測試,NI 一直以來都是客戶最佳的選擇。

 

NI 歡迎所有業界先進在台北國際光電大展期間到 NI 攤位 (K 306) 一起共同切磋、討論,更期待能因為 NI 的方案,協助客戶邁向成功。

 

重點展示

l  LED多點測試機台

此機台為使用業界標準量測平台 -- PXI,搭配多種不同 NI 模組化儀器,所設計完成的 LED 晶圓特性量測系統。能同時針對於多個 LED 進行測試,並輸出完整的測試報表,大幅降低產線上的生產時間與成本。

 

有關  NI  美商國家儀器

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