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NI 引領新世代電子與半導體量測技術

本文作者:陳慧芬整理       點擊: 2018-09-26 11:43
前言:
 

照片人物: 左至右依序為NI 國家儀器亞太區半導體市場開發經理潘建安、台灣區總經理林沛彥、亞太區半導體測試系統經理張建
 
隨著5G 商用化,逐步結合物聯網落地應用,因此讓大範圍的感測裝置節點在長時間運作下依然維持數據傳輸速率以及低功耗,是5G 商用化首要任務。目前5G 毫米波應用頻段仍在論戰階段,對此NI 推出最新5G 毫米波量測系統,為儀器市場上唯一能以FPGA 加速進行5G NR 與未來新標準調變、解調及量測的方案,提供2GHz 瞬時頻寬、可彈性調整的IF 頻率、支援2x2 MIMO 與即時雙向運輸,並涵蓋28、39、60、71GHz 等多種頻段Radio Head,滿足廣泛的5G NR 測試需求。
NI 台灣區總經理林沛彥表示:5G 測試成本是最大的挑戰。在半導體測試過程,製程技術不斷推陳出新、裝置尺寸愈見精簡,不僅測試複雜度提高,更須設法降低精密電子與半導體所能容許的測試成本。NI 半導體測試系統結合模組化儀器與系統設計軟體,從實驗室到量產採用同一PXI 平台,可重複利用測試程式、加速測試專案進行,並透過LabVIEW 及Teststand 軟體提高工程師的程式開發及除錯效率。透過這類系統所具備靈活的軟體定義架構,讓企業保有對功能元件組塊的掌握能力,且能因應不同需求隨時擴充系統。
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