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愛德萬測試再進化

本文作者:馬承信       點擊: 2018-12-14 13:28
前言:
新機種主打DDR5、SSD、溫度控制、汽車、工業和消費性電子的電源管理應用
 
半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest) 正式在台推出多種測試機台,分別為晶片測試系統T5503HS2、PCle Gen 4 SSD 測試機種MPT3000、高功耗IC 溫度控制機種M4171 以及多種電源應用管理的V93000。

針對新世代DDR5 及LP-DDR5 使用程度越來越高,T5503HS2 內建功能強大,可測試時脈精確度為±45 皮秒(picoseconds),資料傳輸速度高達8Gbps 的記憶體,而且是唯一用於支援新世代LPDDR5、DDR5 等高速記憶體裝置量產的高速測試平台。舉例來說,此測試機台可自動辨識與調整DQSDQ差動時脈差異訊號,以確保即時追蹤取得更多時脈餘裕。此外,T5503HS2 穩固的全新演算圖樣產生器(ALPG),可對先進記憶體裝置進行快速、高品質的功能評估。T5503HS2 亦具備全新可編程電源供應器,反應速度較先前版本快4 倍,大幅減少壓降的衝擊。

圖說︰新世代DDR5 及LP-DDR5 使用程度越來越高
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