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愛德萬測試將展示ATE解決方案並發表論文

本文作者:愛德萬       點擊: 2018-05-16 09:50
前言:
SEMICON SEA 5月22-24日首次在吉隆坡登場 半導體測試設備龍頭以大會贊助商身分回歸
2018年5月15日--半導體設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 將在5月22至24日,於吉隆坡新落成的馬來西亞國際貿易展覽中心 (Malaysia International Trade and Exhibition Centre,MITEC) 盛大舉行的東南亞國際半導體展 (SEMICON Southeast Asia) 展示先進產品與服務。愛德萬測試為本次大會的銀級贊助商。
 
產品展示
愛德萬測試將在第727號攤位展示其革命性的EVA100量測系統,該系統應用範圍廣,從工程到量產環境皆適用。擴充性佳的EVA100能同步控制多重測試功能,執行高精準度量測任務,為客戶提升測試效率,縮短產品上市時間。
 
此外,愛德萬測試亦將展示創新CloudTesting™服務,為半導體設計、電子零件研發、原型測試、失效分析和學術研究提供成本效益高的隨選測試解決方案。
 
同樣將在攤位上亮相的還有M4171可移動、Single-site分類機,該款分類機具備自動元件上載與卸載以及主動式溫度控制 (ATC) 功能,是工程環境的最佳選擇。
 
論文發表
5月23日 (三) 下午3:10,愛德萬測試資深研發暨應用工程師Shang Yang博士將於「IC失效分析與缺陷特徵論壇」(IC Failure Analysis and Defects Characterization Forum) 發表「以高解析度時域反射技術檢測3D晶片缺陷特徵」(3D Chip Defect Characterization by High Resolution Time-Domain Reflectometry) 論文。
 
愛德萬測試亦將於5月24日 (四) 的「產品與系統等級測試論壇」(Product & System Level Testing Forum) 發表兩篇論文。上午10:25登場的是新加坡格羅方德半導體公司 (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte. Ltd.) 測試開發工程經理Ting Jia Wen,發表「5G毫米波未來測試方法在ATE等級的應用」(5G mmWave Future Testing Methodology at ATE Level) 論文。接著在11:05,愛德萬測試應用工程師Alvin Siew將以「解決電動車大功率類比IC測試的強烈需求」(Addressing the Robust Testing Needs of High-Power Analog ICs in Electric Vehicles) 為題發表論文。
 
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com