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愛德萬測試針對半導體工程實驗室,推出具溫控測試的創新IC自動分類機

時間:2017-12-04 10:41來源:愛德萬測試 作者:愛德萬測試 點擊:
最新M4171不僅能有效節省測試成本,更可藉由遠端操控功能,大幅提升系統利用率
2017年12月4日--日本東京2017年11月28日訊,半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 最新推出M4171分類機,滿足客戶在元件特性驗證和試產良率攀升階段,對於高功耗IC溫度控制測試的需求,提供行動電子裝置市場最經濟實惠的選擇。此一新款可移動、Single-site分類機能在工程實驗室中自動裝載和卸載元件,並設定溫控和做好元件分類,不需再仰賴人力手動處理,同時和傳統較大、較貴的量產規模分類機台一樣,具備主動式溫度控制 (ATC) 功能。
 
客戶隨時隨地都能透過網路遠端操作M4171機台,順暢執行元件分類與溫度控制作業。採用此新款分類機不僅可精簡操作人力、節省實驗室成本,更能協助身處不同地點的工程團隊,大幅提升系統利用率。
 
自動元件分類、遠端操作,再加上涵蓋-45°C至125°C大範圍溫度控制的ATC功能,使得M4171從同類競爭者中脫穎而出,可以使用預設值或使用者自行定義的參數,執行包括多模式測試流程(例如單進多溫度測試Single Insertion Multiple Temperature)、自動測試、自動ID測試、輸出盤 (output tray) 二次測試與手動測試。
 
具備即時升級溫控(Tri-Temp Technology)能力的M4171分類機,能在各種溫度下進行測試作業,充分提升測試效率。該系統採行元件表面直接接觸的測試方式,無論升溫或降溫皆可以快速切換,與手動式的溫度控制解決方案相較,其循環溫度測試效率大幅提升40%。
 
M4171分類機可與V93000、T2000測試機及其他測試平台相容。更多特色,包括二維碼讀取機台、元件旋轉器以及High Contact Force 的功能選項。M4171分類機的圖形使用者介面 (GUI) 提供直覺式設計,包括預先設定測試參數,使操作更加容易。
 
愛德萬測試總公司執行役員及Device Handling 事業部部長後藤敏雄先生表示:「藉此高性價比的自動分類機引進實驗室,我們可以協助客戶在既有基礎上提升系統利用率,進而大幅提高生產力。隨著首款Single-site ATC分類機M4171,愛德萬測試將在實驗室及小型工作桌等級的元件特性驗證機台的領域上,開拓新的商機。」
 
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
www.advantest.com
(責任編輯:helen)
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