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是德科技推出第三代參數測試解決方案,可縮短上市時間、降低測試成本

時間:2018-01-22 14:26來源:是德科技 作者:是德科技 點擊:
最新的參數測試解決方案使用「TRUE」參數接腳架構,並利用增強的直接電荷量測技術大幅提高測試速度
2018年1月22日--是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣布推出第三代的Keysight P9000系列大規模並聯參數測設系統。該系統可加速推動新技術的發展,並且降低先進半導體邏輯和記憶體IC的研發和製造成本。舉例而言,新型元件結構和更高的效能,讓每個先進技術節點(小於或等於20 nm)所需的參數測試資料急遽增加。
 

 
Keysight P9000可使用專用的接腳測試單元模組,在矽晶圓上進行100-pin多元件並聯測試。該模組具有參數測試所需的所有基本量測功能,例如電壓、電流、電容、脈衝和頻率。此外,直接電荷量測(DCM)技術使得高速100-pin並聯電容量測變得可能。
 
第二代P9000包含是德科技研發的快速Vt量測技術,可提供單次臨界電壓(Vt)量測,因此量測速度比任何傳統測試方法快了四倍以上。除了100-pin並聯量測外,DCM和高速Vt量測技術所提供的更快速單一參數量測,進一步增進了測試速度。因此,先進晶圓代工廠和記憶體製造商紛紛採用第一代和第二代P9000平台作為他們的下一代參數測試解決方案。
 
隨著第三代P9000的問世,加上Keysight P9015A接腳參數測試模組的輔助,該測試儀進一步縮短了電容量測時間,並解決因多層互連和新元件架構導致電容測試量增加的問題。新模組使用增強的DCM技術,可量測洩漏電容,將單一電容量測速度大幅提升了兩倍以上。相較於傳統的LCR量測儀器,它與各種類型的電容都有很好的資料相容性。此外,100-pin並聯電容量測也讓客戶得以顯著提高量測速率量。
 
台灣是德科技總經理張志銘表示:「目前已有數百台Keysight P9000被全球半導體公司用於研發和量產,例如先進的邏輯晶圓廠和記憶體製造商。是德科技將持續增強P9000,以降低客戶的上市時間和測試成本。第三代P9000提供最快的並聯參數測試解決方案,具有100接腳的TRUE參數接腳模組,即使在傳統測試系統的測試結構中也能快速運作。」
 
其他資訊
更多關於Keysight P9000的資訊,請上網查詢:www.keysight.com/find/p9000。欲查看高解析度圖片,請上網至:www.keysight.com/find/p9000-images
 
是德科技小檔案
 是德科技是引領產業潮流的尖端技術公司,我們致力於協助工程、企業和服務供應商等不同領域的客戶將網路最佳化,並以更低的成本將電子產品推出問市。不論客戶需測試何種電子信號,是德科技都有相對應的解決方案,從設計模擬、產品原型驗證、製造測試,以及網路及雲端環境的最佳化。我們客戶散佈於各個不同領域,包含全球通訊體系、航太與國防、汽車、能源、半導體及消費性電子設備市場。是德科技2016會計年度總營收達29億美元。2017年4月,是德科技收購了Ixia,該公司是網路測試、透視性和安全性的領導者。有關是德科技更詳細的資訊,可瀏覽 www.keysight.com.tw網站。
 
更多是德科技新聞相關資訊,可查詢www.keysight.com/go/news 網站。另外亦可關注是德科技Facebook、Google+、LinkedIn、Twitter和YouTube。
(責任編輯:helen)
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