2012年3月21日---根據經濟部統計，2011 年半導體產值已超過 1.5 兆台幣，加上新製程及 IC 技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達 10% 的總體營收在設備上，伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是半導體廠商最重要的任務。
若將產品的測試流程放大來看， R&D 進行 EVT、DVT，進而再交由產線進行PVT，若 R&D 和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5 倍以上。
為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間，美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將 PXI 平台應用在 R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度，同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。
此次研討會，將於2012年4月12日於新竹科技生活館舉辦，特邀在半導體領域具有多年 DC、混合訊號及 RF 量測經驗的國外專家 Heath Noxon 與 Joey Tun 提供專業的現場諮詢與技術分享。同時全天精彩豐富的技術主題，由 R&D 驗證常見的混合訊號測試延伸至無線通訊測試，再教導工程師如何快速轉移至產線進行大量佈署。除此之外，現場呈現近十組產業實際應用 Demo，完整體驗由 DC、混訊至 RF 測試等多種實務應用。
歡迎各界相關專業人士一同與會，和 NI 一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。
【活動報名方法】
活動地點：新竹 科技生活館 2F 愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)
活動日期：2012.4.12 (二) 09:00 ~ 16:50
電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
網路報名：ni.com/taiwan/seminar
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