愛德萬測試將於7月14-16日舊金山SEMICON West展覽會上展示全系列物聯網 (IoT) 測試解決方案
前言：
完整展示專為物聯網電子產品開發的最新半導體測試設備與新款測試系統
2015年7月6日--半導體測試設備領導者愛德萬測試 (Advantest) 將於7月14-16日加州Moscone會議中心舉辦的SEMICON West展覽會上展示全系列物聯網 (IoT) 測試解決方案，包括自動測試設備 (ATE)、太赫茲量測系統、多視角量測掃描式電子顯微鏡 (SEM) 及電子束微影系統。
愛德萬測試於北館#6143攤位展示系列產品並提供操作示範
今年愛德萬測試將在會場上展示兩款全新產品，分別為：T5833系統，此系統可處理任何NAND快閃記憶體與DRAM元件的wafer sort 和 final test；以及T2000 28G OPM光纖連接埠模組，此為愛德萬測試首款專為光纖傳送/接收資料的高速光纖收發器所設計。同時展出的產品還包括：多功能V93000平台 - 針對多組同測射頻 (RF) 應用元件加速完成品質檢驗，並能測試物聯網元件；M4871與M6245測試分類機 - 主要應用於系統單晶片和記憶體IC；T2000 ISS - 以at-speed方式對高速CMOS影像感測元件進行測試；T2000 IPS - 整合式電源元件測試解決方案；T6391整合式全功能系統 - 適用於高速高接腳數的顯示器驅動IC (DDI) 測試。在高階量測與奈米圖樣應用方面，則有：TS9000 terahertz量測系統 - 以非破壞性方式進行IC封膠厚度檢測與電性故障分析TDR (時域反射)；E3310、E3640及E5610電子顯微鏡系統 (SEM) 系列 - 檢測新一代晶圓、光罩、基材中的缺陷；F7000電子束微影系統 - 專為10-nm以下技術節點的奈米製程所開發。
今年愛德萬測試將在會場上展示兩款全新產品，分別為：T5833系統，此系統可處理任何NAND快閃記憶體與DRAM元件的wafer sort 和 final test；以及T2000 28G OPM光纖連接埠模組，此為愛德萬測試首款專為光纖傳送/接收資料的高速光纖收發器所設計。同時展出的產品還包括：多功能V93000平台 - 針對多組同測射頻 (RF) 應用元件加速完成品質檢驗，並能測試物聯網元件；M4871與M6245測試分類機 - 主要應用於系統單晶片和記憶體IC；T2000 ISS - 以at-speed方式對高速CMOS影像感測元件進行測試；T2000 IPS - 整合式電源元件測試解決方案；T6391整合式全功能系統 - 適用於高速高接腳數的顯示器驅動IC (DDI) 測試。在高階量測與奈米圖樣應用方面，則有：TS9000 terahertz量測系統 - 以非破壞性方式進行IC封膠厚度檢測與電性故障分析TDR (時域反射)；E3310、E3640及E5610電子顯微鏡系統 (SEM) 系列 - 檢測新一代晶圓、光罩、基材中的缺陷；F7000電子束微影系統 - 專為10-nm以下技術節點的奈米製程所開發。
另外也將在會場上示範EVA100測試機台對低接腳數半導體的數位與類比測試、愛德萬測試的CloudTesting雲端測試服務及SmartBox。SmartBox是Advantest集團旗下所屬公司W2BI專為智慧型手機、平板及物聯網裝置所開發的創新診斷檢測解決方案，應用範圍包括生產線及銷售端點。
年度最佳論文提名
此外，去年 (2014) 11月在中國杭州舉辦的IEEE亞洲測試研討會上，由數位愛德萬測試內部人員與合作夥伴公司人員共同發表的「An ATE-Based 32-Gbaud PAM-4 At-Speed Characterization and Testing Solution」論文，已獲得2014最佳ATE論文 (Best ATE Paper of 2014) 提名，SEMICON West 2015將在Test Vision 2020研習活動上頒贈此項業界重要榮譽。
此外，去年 (2014) 11月在中國杭州舉辦的IEEE亞洲測試研討會上，由數位愛德萬測試內部人員與合作夥伴公司人員共同發表的「An ATE-Based 32-Gbaud PAM-4 At-Speed Characterization and Testing Solution」論文，已獲得2014最佳ATE論文 (Best ATE Paper of 2014) 提名，SEMICON West 2015將在Test Vision 2020研習活動上頒贈此項業界重要榮譽。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
