愛德萬測試將在12月14~16日 於SEMICON Japan東京國際半導體展進行產品展示、現場呈現與發表技術論文
前言：
測試設備領導者愛德萬將透過現場與互動式產品展示
呈現全系列物聯網應用測試解決方案
2016年12月7日--半導體設備測試領導供應商愛德萬測試(Advantest)即將於12月14~16日在東京國際展示場舉行的2016年SEMICON Japan國際半導體展上，針對物聯網各式應用展示業界最廣泛的測試解決方案。今年愛德萬測試仍將擔任該展會的黃金贊助商。
從愛德萬測試最新的測試解決方案到旗下獲業界肯定的產品，都將展示於位在第二展館#2445的攤位。展出的產品將分成物聯網應用常見的四大類型：工業、無線/穿戴式裝置、智慧家居以及連網汽車。愛德萬特色產品與服務將含括領先業界的測試與測量平台、提高效能的模組與通道卡、電子束測量與光刻工具、測試分類機、可供下載的測試程式、燒機測試系統、探針卡與現場服務。
愛德萬將透過現場與虛擬實境展示以及數位繪圖提供技術見解，與會來賓可藉此獲悉愛德萬測試於全球各地推出的所有最新IC測試創新技術。
愛德萬測試全球行銷傳播副總裁Judy Davies表示：「愛德萬致力提供客戶物聯網世界所需的量測解決方案以及所有相關產品。我們於今年度SEMICON Japan展覽會上的展出將體現此承諾，提供舊雨新知兼顧娛樂與知識的體驗。」
在12月15日下午2點20分於自駕與車連網論壇上，愛德萬測試ASD測試與量測事業群副總裁Shin Kimura將於會議大樓的A接待廳發表「物聯網社會與測試技術」的技術論文。除了發表論文，愛德萬亦是此論壇的贊助商。
社群聯繫方式
若想進一步獲得領導供應商愛德萬測試解決方案的最新訊息，歡迎追蹤愛德萬測試的Twitter帳號@Advantest_ATE
若想進一步獲得領導供應商愛德萬測試解決方案的最新訊息，歡迎追蹤愛德萬測試的Twitter帳號@Advantest_ATE
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
