2017年10月24日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE：6857) 將在10月31日至11月2日於美國德州沃斯堡 (Fort Worth) 盛大舉行的2017國際測試會議 (International Test Conference，簡稱ITC) 展示硬體與線上測試解決方案，並發表技術論文與海報。
愛德萬測試很榮幸能持續擔任ITC白金級贊助商。
展出產品
愛德萬測試位於218號的攤位將展出隨選CloudTesting™服務和EVA100類比/混合訊號IC測試解決方案最新功能。
愛德萬測試位於218號的攤位將展出隨選CloudTesting™服務和EVA100類比/混合訊號IC測試解決方案最新功能。
首創先例的CloudTesting服務讓用戶可以隨時從愛德萬測試網站直接選用各式測試方法 (IP)。只要利用此種隨選線上服務，設計師即可在IC從晶圓廠一送達公司,在不需要資本支出之下以最低的費用成本, 在幾小時內建立相關測試環境來驗證新的矽智財。來到愛德萬測試ITC攤位的參觀者，將可以實地體驗到CTS桌上型測試系統如何以STIL格式產生之DFT Pattern來快速地驗證IC。愛德萬測試CloudTesting提供測試機免費租用服務及最實惠的維護成本，協助客戶避免預期以外的支出。
愛德萬測試EVA100類比/混合訊號測試解決方案結合模組化架構設計和高電壓、高精確度類比參數量測單位，使用彈性大，可因應廣泛的類比與混合裝置各種測量需求。EVA100產品家族最新機型能提供整合式伺服迴路功能，達到業界最短的測試時間與最高精確度。其18位元A/D轉換器擁有20位元線性度DC表現，以及超低飄移/雜訊源與參考電壓 (VREF)，搭配高度直覺式的圖形使用者介面 (GUI)，用戶得以大幅縮短其最新IC產品的上市時間。
論文發表
除了產品展示以外，愛德萬測試的專家也將於ITC著名的技術議程發表最新論文。
除了產品展示以外，愛德萬測試的專家也將於ITC著名的技術議程發表最新論文。
10月31日 (二) 下午1:30，愛德萬測試的AT Sivaram將於企業論壇 (Corporate Forum) 時段發表 ”CloudTesting Service Simulator Interfaces”。11月1日 (三) 上午8:30，愛德萬測試的Bob Bartlett將主持第四場會議 “Dealing with Jitter and Leveraging Light”。同場會議中，愛德萬測試的石田雅裕 (Masahiro Ishida) 與一山清隆 (Kiyotaka Ichiyama) 將於上午9:30發表論文 ”A Jitter Separation and BER Estimation Method for Asymmetric Total Jitter Distributions”。同日上午10:30，Don Blair將主持第八場會議，主題為 ”Interfaces, iJTAG and DDR Testing”。
同樣在星期三，愛德萬測試將在中午12:00至下午2:00於ITC海報發表議程的海報一 (Poster 1) 與 海報二 (Poster 2) 位置展示最新技術，資訊如下：
海報一：”Multisite PMIC Fast Trimming with Pattern-based Search Function”，發表人：愛德萬測試Kevin Fan
海報二：”Delay Fault Testing Using Cloud Testing Service”，發表人：愛德萬測試AT Sivaram、 Oyama Yasuji，與美國高通 (Qualcomm) 的Sam El Alam、Arul Subbarayan
連結社群媒體
欲獲得愛德萬測試最新活動訊息，請追蹤我們的Twitter帳號：@Advantest_ATE。
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
