2024年12月10日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE:6857) 將於12月11日至13日假東京Big Sight國際展示中心盛大舉辦的2024日本國際半導體展 (SEMICON Japan) 展示最新測試解決方案，內容涵蓋旗下豐富產品線，包括針對先進記憶體、5G、人工智慧 (AI) 和高效能運算 (HPC) 等應用所推出之頂尖測試科技。在喜迎70週年之際，愛德萬測試將以「攜手迎向未來」(Facing the Future Together) 為題，與最珍視的客戶和業界夥伴於今年的SEMICON Japan一起慶祝這項重要里程碑。
此外，愛德萬測試身為國際半導體產業協會 (SEMI) 全球半導體氣候聯盟 (Semiconductor Climate Consortium，簡稱SCC) 創始成員，亦將於SEMICON Japan 2024推廣其ESG (環境保護、社會責任及公司治理) 倡議；愛德萬測試同時也是今年度盛會的黃金贊助商，並榮幸贊助永續論壇 (Sustainability Forum)。
產品展示
愛德萬測試展區位在「東展覽棟一」第1648號攤位，今年展出重點是推動創新和日常生活不可或缺之先進技術研發的關鍵解決方案。展示產品如下：
- 最新HA1100晶粒針測機，在設計上能與CREA MT系統相互搭配，打造針對功率半導體的整合式良裸晶 (KGD) 測試機台，極大化寬能隙 (WBG) 元件測試良率。
- 最新Wave Scale RF20ex寬頻、高頻寬RF IC測試卡，針對V93000 EXA Scale平台設計，提供與時俱進的頻率與頻寬，包括介於100MHz至20GHz的頻率範圍，以及領先業界的2GHz頻寬技術，可因應WiFi7、UWB等先進頻寬應用。
- 最新PMUX02先進功率多工器，針對V93000 EXA Scale測試平台設計，特點為高開關密度和更廣的電壓範圍，能優化功率與類比元件測試。
- 針對V93000 EXA Scale設計的DC Scale XHC32 電源供應，可提供32通道與前所未見、最高達640A的單儀器總電流；Pin Scale Multilevel Serial則是首款原生且全面整合的HSIO卡，擴充 EXA Scale平台功能以滿足先進通訊介面之信令需求。
- 最新ACS Gemini™軟體開發平台，作為ACS RTDI™的數位孿生 (Digital Twin)，讓客戶得以在虛擬環境中，針對機器學習應用程式進行開發、模擬和除錯。
- T2000 SoC測試系統配備快速開發套件 (RDK)，針對包括汽車、電源類比和CMOS影像感測器等所有系統單晶片 (SoC)。
- T6391測試系統，針對高速、高精準度及高電壓量測需求設計，以測試新興顯示器驅動IC。
- 愛德萬測試系統級測試平台，透過功能性高速IO介面，達到符合成本效益的結構測試涵蓋範圍 (SCAN、MBIST、LBIST等)。
演說發表
除了產品展示外，愛德萬測試SVC行銷暨業務開發資深總監兼測試策略師Shinji Fujita，亦將於STS測試 (STS Testing) 主題場次，以「Optimization of Test Strategies for Innovative Chiplets for HPC/AI Applications (HPC/AI應用創新小晶片測試策略之最佳化)」為題發表演說，時間是在12月11日下午3點30分，假會議棟607室進行。
社群媒體
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關於愛德萬測試
愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類 半導體設計和生產流程，領域涵蓋 5G 通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI) 和機器學習在 內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各地最先進的半導體生 產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研發，不僅針對晶圓 測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子顯微鏡 (SEM)， 並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954 年創立於日本東京的愛德萬測試，已成為在世 界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。
更多資訊 請上：www.advantest.com
