人氣手機「驚爆」頻傳，坊間已有廣泛討論。從企業管理角度思忖，搶鮮上市的「生魚片」文化、貪多嚼不爛地盲目提升規格，確實都是深層釀禍基因；然就技術層面剖析，元件／電路設計、充電系統、機構塑形乃至於電池芯、隔離板，都身負嫌疑。其實，有些表面看來「理所當然」的好事，卻遲未有人身先士卒……背後往往藏有業界心照不宣的秘密或共識。一旦易地而處，不妨先捫心自問：為何別人不做？是沒能力，還是根本沒這個打算？
手機電池容量的擴充就是一例。基於續航力考量，大家都知道容量越大越好，為何多數廠商仍採取保守策略？原因當然很多，諸如：效能、成本、體積、重量、技術門檻……但其中一個極為關鍵的決策點是「安全」。生活中隨處可見的鋰電池，雖然不像鎳氫電池具有記憶效應，須將電力耗盡再充、且最好一次充飽那麼麻煩；但另一方面，卻也因其屬性相對活潑，一旦過充、過放，會大幅減少電池容量、甚至損壞化學結構、無法再行還原，造成不可逆的後果。
為了消費大眾安全與電子產品耐用著想，從元件製造、系統設計到量產驗證皆須嚴謹把關，量測的重要性亦與日俱增，主要目的在於讓研發人員檢測元件、系統功耗，或在既定功耗下驗證效能表現，以改善電路設計；同時讓產線人員能據以確認產品性能，是否合乎開發目標及行業法規，並作為正式送實驗室測試前的 pre- test，降低來回驗證成本。值得留意的是，產品的多工趨勢將憑添更多潛在風險與測試難度，導致量測儀器發生質變：
1. 物聯網 (IoT) 裝置對於低功耗的期望更高，電源量測儀器的觀測範圍和解析度皆有所提升；
2. 靜態觀測無法掌握「瞬間」突波，具有動態模擬功能的電源供應器 (Power Supply) 繼之而起，有供應商進一步主張以「多檔位」因應不同功率測試；
3. 能量守恆定律，電 vs. 磁可能互相牽引，供電系統異常肇因須經多方檢視，促使傳統示波器朝向「混合訊號」方向邁進；
4. 為簡化測試流程並發掘難以察覺的交互影響，「一件式」Multi-function 儀器盛行，或以軟體在專業單機上實現、或以 PC-based 的 PXI 開放式模組插卡；
5. 有廠商認為，單機在輸出功率、隔離能力與遠端控制較佔優勢，而 PXI 模組傳輸較快但背景雜訊相對較大，且恐有「瓦數」限制，不利大功率電池測試；
6. 若有技術細節的精緻調變需求，PXI 模組因編程靈活度高，更適合進行產品差異化。
1. 物聯網 (IoT) 裝置對於低功耗的期望更高，電源量測儀器的觀測範圍和解析度皆有所提升；
2. 靜態觀測無法掌握「瞬間」突波，具有動態模擬功能的電源供應器 (Power Supply) 繼之而起，有供應商進一步主張以「多檔位」因應不同功率測試；
3. 能量守恆定律，電 vs. 磁可能互相牽引，供電系統異常肇因須經多方檢視，促使傳統示波器朝向「混合訊號」方向邁進；
4. 為簡化測試流程並發掘難以察覺的交互影響，「一件式」Multi-function 儀器盛行，或以軟體在專業單機上實現、或以 PC-based 的 PXI 開放式模組插卡；
5. 有廠商認為，單機在輸出功率、隔離能力與遠端控制較佔優勢，而 PXI 模組傳輸較快但背景雜訊相對較大，且恐有「瓦數」限制，不利大功率電池測試；
6. 若有技術細節的精緻調變需求，PXI 模組因編程靈活度高，更適合進行產品差異化。
隨著半導體製程進入奈米時代，混合訊號與電磁干擾 (EMI)、電磁相容 (EMC)、靜電放電 (ESD) 等問題不小心就會成為危害大局的「致命魔鬼」，綜合量測有其必要性；示波器、任意波形產生器、頻譜分析儀、邏輯分析儀、通訊協定 (protocol) 一致性驗證的合流發展，也就順理成章。此外，測試腳本 (script) 編輯權限、FPGA 乃至於開放式模組的提供，則可讓產品的開發與生產更富客製化能力。
本期內容:
·安全電源量測之電流波動
Keysight：電路設計、工作模式與電池充放循環影響甚鉅
·安全電源量測之混合示波
Tektronix：精準量測電流變化才能正確推估電量
·安全電源量測之電磁干擾
R&S：供電系統異常？數位示波器釐清電路或電磁肇因
·安全電源量測之電池管理
固緯電子: 多檔位電源供應器模擬不同功率電池吃載行為
·安全電源量測之無線充電
Micropross ＆ 筑波科技：測試規範細節多，一致性認證不容輕忽
·安全電源量測之自定模組編程
NI：驗證不嚴謹乃危害電源系統之禍源
·安全電源量測之電流波動
Keysight：電路設計、工作模式與電池充放循環影響甚鉅
·安全電源量測之混合示波
Tektronix：精準量測電流變化才能正確推估電量
·安全電源量測之電磁干擾
R&S：供電系統異常？數位示波器釐清電路或電磁肇因
·安全電源量測之電池管理
固緯電子: 多檔位電源供應器模擬不同功率電池吃載行為
·安全電源量測之無線充電
Micropross ＆ 筑波科技：測試規範細節多，一致性認證不容輕忽
·安全電源量測之自定模組編程
NI：驗證不嚴謹乃危害電源系統之禍源
