當前位置： 主頁 > 技術分類0 > IC技術0 > IC設計/EDA工具0 >

Mentor Graphics宣佈FastScan和TestKompress測試設計工具增強自動化處理功能，取得最�

本文作者：admin 點擊： 2004-10-14 00:00

前言：

Mentor Graphics 公司宣佈了其行業領先的自動測試向量生成工具（ATPG）、FastScan

Ô以及它的嵌入式確定性測試工具TestKompress

Ò新增加自動化處理功能——ATPG Expert。ATPG Expert功能部件能對設計進行自動分析，並智慧化地使用ATPG工具（Fastscan和Testkompress）所提供的命令處理測試向量生成中的所有複雜性，如RAM的Shadow logic和匯流排衝突問題。ATPG Expert可以在測試覆蓋率、測試向量數目以及咝袝r間方面獲得最佳效果。

隨著設計工藝向納米幾何方向發展，選擇最有效的ATPG 參數來獲得理想的結果可以說是一項令人生畏的任務。ATPG Expert功能部件作為FastScan或TestKompress工具內的一個智慧 “專家”來工作，以便對設計進行自動分析並作出決策來產生最佳效果。ATPG Expert對測試向量生成的複雜性進行智慧化管理，例如：確定如何處理RAM陰影邏輯，確定要設置的sequential depth或abort limits，確定要採用的壓縮類型、以及如何處理不同時鐘域之間的交互作用以及匯流排衝突問題等。其結果是使得工程師只需要一條簡單的命令就是可以獲得更高的覆蓋率、最小的測試向量數目以及最優化的ATPG咝袝r間。

“納米設計的趨勢帶來了許多新的複雜性和不確定因素。我們的目標是通過ATPG過程的進一步自動化增加確定性並簡化獲得最佳測試結果的過程，”Mentor Graphics公司設計驗證與測試部總經理兼副總裁Robert Hum說，“我們將FastScan 工具中現有的功能全部納入TestKompress工具中，用戶因此可以輕鬆地採用這些工具並將這些工具整合到他們的設計流程中，從而獲得全面的、可升級的測試解決方案。”

關於FastScan和

TestKompress

FastScan和TestKompress工具是目前可以得到的最先進的ATPG工具。用戶輕鬆地將其整合到任何設計流程中，可提供最高的測試覆蓋率，同時顯著地減少了測試向量生成時間。這兩種工具均提供了範圍廣泛的故障模型和測試向量類型，以便進行更加徹底的測試、並提供全面的設計規則檢查以及針對高性能向量壓縮的創新演算法。基於ATPG方法，TestKompress工具的特點是顯著的壓縮性能，相比傳統的ATPG工具如Fastscan，可減少多達100X的測試資料量，同時提高了測試品質和降低了測試成本。兩種工具的目前版本中都有ATPG Expert功能部件（免費）。欲知更多的資訊，請訪問網站www.mentor.com/dft 。

本月熱點 HOME

欄目熱點 HOME