Tata Consultancy Services選擇Mentor Graphics可測試設計工具

本文作者:admin       點擊: 2005-03-11 00:00
前言:




Mentor Graphics日前宣佈Tata Consultancy Services (TCS),亞洲最大的資訊科技顧問服務公司,已決定採用Mentor Graphics的可測試設計 (DFT) 工具。TCS提供設計服務和智慧財給各種半導體設計和製造廠商,因此它需要彈性而完整的可測試設計工具,藉以支援各種複雜的製程技術和設計流程。


Mentor Graphics的可測試設計工具為TCS客戶提供更高的測試覆蓋率、彈性和創新的全速測試 (at-speed test) 能力,它們能提升測試品質和降低測試成本。Mentor Graphics為今日的系統單晶片和深次微米設計提供業界最完整的可測試設計解決方案,包括記憶體內建自我測試 (BIST)、邏輯電路內建自我測試、邊界掃描、自動測試圖案產生 (ATPG) 和嵌入式壓縮解決方案。


「我們的客戶期望我們克服非常複雜的設計挑戰,所以我們必須使用當前最先進的工具和測試技術。」TCS頭帶式嵌入式系統部門的Sherlekar博士表示,「TCS的理念是使用最好或客戶喜歡的工具來提供服務和解決方案。Mentor Graphics擁有業界最好的可測試設計工具,它們能導入任何設計流程,讓我們將高品質的測試解決方案提供給最多客戶。投資於Mentor Graphics領先業界的可測試設計工具也讓我們能訓練我們的設計人員,使他們掌握必要的設計技巧,同時確保為客戶提供價值更高的解決方案。」


TCS決定採用FastScan,這套領先業界的ATPG工具提供簡單界面和各種故障模型、先進的故障分析能力、測試圖案壓縮和最佳化以及通過業界考驗的全速測試能力,可為目前最先進的ASIC和系統單晶片設計提供高覆蓋率的測試。TCS還要將MBISTArchitect產品用於記憶體內建自我測試,並利用BSDArchitect™實作邊界掃描功能。


「Mentor提供種類廣泛而功能強大的可測試設計解決方案,確保TCS等居於領先的服務供應商能為客戶提供完整先進的製造測試解決方案,滿足今日最複雜的系統單晶片設計需求。」Mentor Graphics設計驗證與測試部門副總裁暨總經理Robert Hum表示,「隨著業界繼續朝向奈米技術前進,Mentor的FastScan、TestKompress®和MBISTArchitect等先進測試解決方案將在確保IC製造品質扮演更重要角色。」


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