Credence Systems Corporation日前宣佈其Sapphire D-10系統榮獲2006年度《測試與測量世界》雜誌授予的”Best in Test award” 獎項（譯：最佳測試獎）。
Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類晶片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統，它採用先進科技，集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的設計充分地考慮了不管是量產測試還是工程驗證的不同測試要求。
《測試與測量世界》主編Rick Nelson說：“2006年度Best in Awards獎項只頒給那些能給測試界帶來重大技術革新的新產品。我們的編輯之所以選擇Credence的Sapphire D-10做為該獎項的獲獎者是因為該款系統綜合了高速的資料交換網路，基於FPGA的高度靈活性以及高密度的CMOS集成來提高系統測試各種消費類晶片的產能和效率。“
Credence System Corporation總裁兼執行長Dave Ranhoff說：“我們非常高興能榮獲該獎項。做為一種革新的測試系統設計理念，並結合Credence的先進技術，Sapphire D-10迅速地獲得了全世界市場的接受和認可。事實上，該系統首先在北美和亞洲的多個IDM和 OSAT工廠被採用正好證明了它在降低內置MCU，顯示驅動控制和無線基頻晶片測試成本時的重大成果。“
Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費類晶片測試系統。Sapphire D-10是一款極緊湊的測試系統，它採用先進科技，集成了更多更好的特性功能。Sapphire D-10的設計充分地考慮了不管是量產測試還是工程驗證的不同測試要求。
《測試與測量世界》主編Rick Nelson說：“2006年度Best in Awards獎項只頒給那些能給測試界帶來重大技術革新的新產品。我們的編輯之所以選擇Credence的Sapphire D-10做為該獎項的獲獎者是因為該款系統綜合了高速的資料交換網路，基於FPGA的高度靈活性以及高密度的CMOS集成來提高系統測試各種消費類晶片的產能和效率。“
Credence System Corporation總裁兼執行長Dave Ranhoff說：“我們非常高興能榮獲該獎項。做為一種革新的測試系統設計理念，並結合Credence的先進技術，Sapphire D-10迅速地獲得了全世界市場的接受和認可。事實上，該系統首先在北美和亞洲的多個IDM和 OSAT工廠被採用正好證明了它在降低內置MCU，顯示驅動控制和無線基頻晶片測試成本時的重大成果。“
