惠瑞捷奈米電子數位信號測試解決方案可找出65奈米及更小製程的故障模式以提高生產良率

惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）針對65奈米和更小製程所生產之先進數位IC的晶圓測試（Wafer Sort）及終程測試（Final Test），推出可執行結構及功能測試的V93000奈米電子數位信號測試解決方案（Nanoelectronics Digital Solution）。奈米電子數位信號測試解決方案可提供準確的診斷及參數資料，協助製造商找出新的故障模式（Failure Mechanism），以提高65奈米和更小製程的生產良率，這是轉進更小節點的新式製程時，會面臨的主要挑戰。新設計將能大大受惠於這套解決方案提供的深入資訊，且測試的效率極高，能以最低的測試成本（CoT），加快產品的上市時間。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「奈米電子的時代挑戰了我們對測試在生產流程中扮演之角色的傳統認知。自動化測試設備不再只是一個判定合格/不合格的工具，而是逐漸成為提升大量生產良率的關鍵工具。我們新推出的解決方案可以讓V93000的使用者蒐集到測試奈米電子所需的準確診斷及參數資料，其多元件（Multi-site）的測試效率更樹立了生產力的新標準。」 

隨著製程節點轉進65奈米或更小的等級，製造商也面臨新型態故障模式帶來的測試挑戰，例如轉變引起的故障（Transition Fault）和橋接引起的故障（Bridging Fault）、設計流程互動特性、以及晶粒內（Inter-die）和晶粒間（Intra-die）的變異（Variation）等。掃描向量的數量愈來愈多，加上晶片內壓縮及內建自我測試能力（BIST）等結構的使用更為普遍，更加重了測試的挑戰。除了整合高性能的類比和直流電路的複雜度之外，尺寸變小、電壓更低和速度更高的要求通常也會一併出現，使得量測的準確度變得更加重要。奈米電子一開始的良率較難掌握，因此量測準確度的重要性更甚以往，唯有準確的量測結果，才能拉近測試和設計間的落差，加快良率學習和改善的過程。 

惠瑞捷瞭解擁有合適解決方案的必要性：一方面可提供最充足、深入的資訊，同時又能達到最高的生產效率，包括能快速地將資料從測試系統轉出，以進行量產良率的分析診斷。這樣的解決方案可以讓製造商充分利用最新測試方法的優點，例如更多元件的測試能力、減少所需的測試接腳數、以及迴圈（Loop-back）測試方法，在此同時，也能減少資料蒐集量到僅限於最相關的資訊。

整合式硬體可提供最快的速度

可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。V93000奈米電子數位信號測試解決方案包含下列以超小型測試頭為基礎的配置：
o Pin Scale 400數位信號量測模組卡，可將DC IO提高到533 Mbps；
o 整合式大量故障資料擷取能力和超快速的資料傳輸速度；
o DC Scale DPS32 － 每片模組卡內建32個量測通道，可同時測試多個元件的多個功耗域（Power Domain）、以及進行快速的同步觸發，以提高穩定一致性和提供最快的量測速度；
o STIL連結軟體套件；
o 每支接腳都整合了TIA。

詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/NanoDigital網站。