半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣布推出全方位良率學習解決方案 (Yield Learning Solution)，該解決方案可在複雜系統單晶片晶粒 (SoC die) 上整合未切割晶片測試 (on-tester)、即時擷取以及電性缺陷統計分析等功能。
惠瑞捷這套獨一無二的良率學習解決方案，結合了旗下V93000 SoC測試機台的預先分析模組與一套設計導向的分析及視覺化工具組，協助製造業者在面對大量電性缺陷時，也能迅速將其分類成各種邏輯缺陷。此外，藉由電性測試與實體布線 (layout) 資料無縫隙的結合，這套解決方案可快速找出實體缺陷的根本成因，同時縮短可見與不可見良率損失機制所需的辨別時間，進而使量產時間縮短4週，良率標竿指數提高6%。
無論在設計或製造方面，奈米設備問題診斷所面臨的挑戰已日益加劇，因此IC設計業者、晶圓廠以及測試廠彼此間的緊密合作將更形重要。惠瑞捷良率學習解決方案可讓測試工作有效導入IC設計與晶圓廠，為掃描鏈(scan chain)以及邏輯程序中固定型 (stuck-at) 與難以偵測的時序缺陷提供邏輯圖 (logic map),不僅為實驗室提供高準確性，更使得生產達到高產能，符合新產品上市與常態製造程序監控的關鍵因素。
惠瑞捷DfX解決方案總經理Larry Dibattista表示：「隨著產業大規模挹注於45奈米 (nm) 以下的製程技術，我們的客戶需要一套能夠協助他們與企業內部或是委外晶圓代工廠進行協同合作的解決方案，在IP資訊獲得保護下快速診斷缺陷問題。惠瑞捷良率學習解決方案不但能夠提高協同合作效率，更對設計問題進行特性化分析，此一獨特優勢讓半導體廠商得以即時回應並修正異常良率，進而加速產品上市時程。」
領先業界的整合式解決方案
惠瑞捷的良率學習解決方案整合領先業界的測試機台架構V93000、缺陷分類定位軟體 (Triage Fault Locator)、以及YieldVision軟體工具組，後者是業界最先進的未切割晶片測試 (on-tester) 與軟體工具，可進行缺陷資料擷取與良率分析。V93000獨步業界的高延展性架構使得良率學習解決方案得以完全整合其中；分類軟體 (Triage) 的專利運算技術創造出前所未有的資料處理效率；YieldVision分析與視覺化工具則可快速找出實體缺陷的根本成因，大幅縮短問題診斷時間。因此，這套解決方案將能大大提升診斷問題以及解決問題的效率。
上市時間
惠瑞捷目前正積極協助早期導入客戶採用良率學習解決方案。預計該解決方案可在今年年底全面上市。詳細產品資訊，請上網瀏覽www.verigy.com/go/yield。
良率學習解決方案將於2009年7月14至16日加州舊金山的SEMICON WEST展覽中展示。惠瑞捷攤位設於展覽館南棟編號921。
惠瑞捷這套獨一無二的良率學習解決方案，結合了旗下V93000 SoC測試機台的預先分析模組與一套設計導向的分析及視覺化工具組，協助製造業者在面對大量電性缺陷時，也能迅速將其分類成各種邏輯缺陷。此外，藉由電性測試與實體布線 (layout) 資料無縫隙的結合，這套解決方案可快速找出實體缺陷的根本成因，同時縮短可見與不可見良率損失機制所需的辨別時間，進而使量產時間縮短4週，良率標竿指數提高6%。
無論在設計或製造方面，奈米設備問題診斷所面臨的挑戰已日益加劇，因此IC設計業者、晶圓廠以及測試廠彼此間的緊密合作將更形重要。惠瑞捷良率學習解決方案可讓測試工作有效導入IC設計與晶圓廠，為掃描鏈(scan chain)以及邏輯程序中固定型 (stuck-at) 與難以偵測的時序缺陷提供邏輯圖 (logic map),不僅為實驗室提供高準確性，更使得生產達到高產能，符合新產品上市與常態製造程序監控的關鍵因素。
惠瑞捷DfX解決方案總經理Larry Dibattista表示：「隨著產業大規模挹注於45奈米 (nm) 以下的製程技術，我們的客戶需要一套能夠協助他們與企業內部或是委外晶圓代工廠進行協同合作的解決方案，在IP資訊獲得保護下快速診斷缺陷問題。惠瑞捷良率學習解決方案不但能夠提高協同合作效率，更對設計問題進行特性化分析，此一獨特優勢讓半導體廠商得以即時回應並修正異常良率，進而加速產品上市時程。」
領先業界的整合式解決方案
惠瑞捷的良率學習解決方案整合領先業界的測試機台架構V93000、缺陷分類定位軟體 (Triage Fault Locator)、以及YieldVision軟體工具組，後者是業界最先進的未切割晶片測試 (on-tester) 與軟體工具，可進行缺陷資料擷取與良率分析。V93000獨步業界的高延展性架構使得良率學習解決方案得以完全整合其中；分類軟體 (Triage) 的專利運算技術創造出前所未有的資料處理效率；YieldVision分析與視覺化工具則可快速找出實體缺陷的根本成因，大幅縮短問題診斷時間。因此，這套解決方案將能大大提升診斷問題以及解決問題的效率。
上市時間
惠瑞捷目前正積極協助早期導入客戶採用良率學習解決方案。預計該解決方案可在今年年底全面上市。詳細產品資訊，請上網瀏覽www.verigy.com/go/yield。
良率學習解決方案將於2009年7月14至16日加州舊金山的SEMICON WEST展覽中展示。惠瑞捷攤位設於展覽館南棟編號921。
