半導體測試公司惠瑞捷日前宣布出貨第250套V93000 Port Scale射頻測試系統。此項里程碑證明V93000自2007年6月上市以來備受市場肯定，迅速獲得整合元件製造商 (IDM)、IC設計公司及其封測代工 (OSAT) 夥伴的廣泛採用。業界領導廠商已採用此機台測試多種射頻元件，包括2G、3G與4G行動通訊、藍芽、無線區域網路 (WLAN)、WiMAX以及全球定位系統 (GPS)。
在目前眾多的消費性電子裝置中，射頻元件扮演著關鍵角色，在產品尺寸、外型與製造成本均持續緊縮的趨勢之下，半導體製造商積極地將更多的射頻功能整合至可支援多項通訊協定的單晶片上。因此，為了兼顧成本效益與穩定度，以量產測試埠較多且頻寬較大的射頻IC，半導體製造商皆追求具備低成本特性的先進測試效能。
惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統最多可配置96個射頻測試埠，提供8組元件並行測試，以高效率的多元件並行測試能力，達成高品質且低成本的產出。這套可擴充的測試系統可依據不同的功能與價格定位來配置，滿足每個客戶的特定需求。無論是功率放大器、調諧器、收發器等低整合度裝置，或是整合混合訊號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體的高整合度射頻裝置，皆可由V93000進行測試。此外，V93000的多功能測試架構讓客戶能運用單一機台測試所有的射頻與系統單晶片 (SoC) 產品線，無需為不同應用的產品設置多個測試平台。
在目前眾多的消費性電子裝置中，射頻元件扮演著關鍵角色，在產品尺寸、外型與製造成本均持續緊縮的趨勢之下，半導體製造商積極地將更多的射頻功能整合至可支援多項通訊協定的單晶片上。因此，為了兼顧成本效益與穩定度，以量產測試埠較多且頻寬較大的射頻IC，半導體製造商皆追求具備低成本特性的先進測試效能。
惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統最多可配置96個射頻測試埠，提供8組元件並行測試，以高效率的多元件並行測試能力，達成高品質且低成本的產出。這套可擴充的測試系統可依據不同的功能與價格定位來配置，滿足每個客戶的特定需求。無論是功率放大器、調諧器、收發器等低整合度裝置，或是整合混合訊號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體的高整合度射頻裝置，皆可由V93000進行測試。此外，V93000的多功能測試架構讓客戶能運用單一機台測試所有的射頻與系統單晶片 (SoC) 產品線，無需為不同應用的產品設置多個測試平台。
