Advantest Group 子公司惠瑞捷發佈半導體產業首見可擴充、具成本效益的測試機種，專為如 3D 設備架構及 28 奈米以上積體電路設計的高階半導體量身打造。 全新 V93000 Smart Scale™ 測試系統與針腳量測模組已於 7 月 12 到 14 日在舊金山 Moscone 會議中心 SEMICON West 電子展覽中展出。
Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。
惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示： 「 惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」
四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭， 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。
Wagner 更指出： 「 因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備 、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。
隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。
Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。
惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示： 「 惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」
四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭， 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。
Wagner 更指出： 「 因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備 、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。
隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。
