Advantest Group (ATE) 子公司惠瑞捷發佈半導體產業首見可擴充、具成本效益的測試機種，專為如 3D 設備架構及 28 奈米以上積體電路設計的高階半導體量身打造。
Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。
惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示： 「 惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」
四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭， 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。
Wagner 更指出： 「 因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備 、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。
隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。
全新 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME （模擬記憶）模組，提供產業間每個數位信號最廣泛的效能。除此之外，數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps ﹣比上一代的機台快兩倍 ﹣新機台的針腳密度也較前一代多達兩到四倍。全新高度集成、尺寸小的模組具備惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™ 、PRBS per pin 與 SmartLoop™ 等對稱高速介面專用測試功能。同時提供精準 DC 效能、多元件高效率非同步測試及同步測試。
惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組使原速測試的花費不再高不可攀，結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8 Gbps 數據率。此模組以最大限度使用針腳，並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端針腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求，涵蓋確認設計的並行 I/O 測試，到大量生產所需的互連實體串列 (PHY)測試。
關於 Advantest Group 子公司惠瑞捷
惠瑞捷製造高階半導體測試系統，並為全球設計驗證、特性測試與大量生產測試領導企業提供作業方案。惠瑞捷開發測試先進晶片內建系統 (SOC) 測試方案、快閃記憶測試方案、高速記憶與多晶片封裝 (MCP) DRAM 等各式可擴充平台。惠瑞捷也提供先進分析工具，可加速設計偵錯及提升良率流程。如須瞭解更多 Advantest Group 子公司惠瑞捷相關資訊可查詢 www.verigy.com 。 如須瞭解 Advantest 資訊請查詢 www.advantest.com 。
# # #
Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。
惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示： 「 惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」
四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭， 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。
Wagner 更指出： 「 因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備 、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。
隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。
全新 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME （模擬記憶）模組，提供產業間每個數位信號最廣泛的效能。除此之外，數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps ﹣比上一代的機台快兩倍 ﹣新機台的針腳密度也較前一代多達兩到四倍。全新高度集成、尺寸小的模組具備惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™ 、PRBS per pin 與 SmartLoop™ 等對稱高速介面專用測試功能。同時提供精準 DC 效能、多元件高效率非同步測試及同步測試。
惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組使原速測試的花費不再高不可攀，結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8 Gbps 數據率。此模組以最大限度使用針腳，並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端針腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求，涵蓋確認設計的並行 I/O 測試，到大量生產所需的互連實體串列 (PHY)測試。
關於 Advantest Group 子公司惠瑞捷
惠瑞捷製造高階半導體測試系統，並為全球設計驗證、特性測試與大量生產測試領導企業提供作業方案。惠瑞捷開發測試先進晶片內建系統 (SOC) 測試方案、快閃記憶測試方案、高速記憶與多晶片封裝 (MCP) DRAM 等各式可擴充平台。惠瑞捷也提供先進分析工具，可加速設計偵錯及提升良率流程。如須瞭解更多 Advantest Group 子公司惠瑞捷相關資訊可查詢 www.verigy.com 。 如須瞭解 Advantest 資訊請查詢 www.advantest.com 。
# # #
