快捷半導體的先進MOSFET技術降低Miller電荷達35-40%,在同步降壓應用中實現優異的開關和散熱性能
快捷半導體公司 (Fairchild Semiconductor) 宣佈其性能先進的PowerTrench® MOSFET製程可實現極低的Miller電荷 (Qgd)、RDS(on)、總柵極電荷 (Qg),並改善柵漏電荷對柵源電荷 (Qgd:Qgs) 的比率,在同步降壓應用中帶來優異的開關性能和散熱效率。低Qgd的優勢在於減少開關損耗和縮短“死區時間”,以改善穩壓性能。理想的Qgd:Qgs比率可以防止柵極誤觸發以避免MOSFET用作同步整流器時會於開關MOSFET 之間產生短路電流。低RDS(on)對於降低導通損耗非常重要,而低Qg可減少每次切換中導通和關斷MOSFET所消耗的功率。快捷半導體所推出兩種新型30V MOSFET為FDS6294和FDS7288N3型號,具備改進型快速開關技術的優勢,分別適用於筆記型電腦和POL (負荷點) 轉換器設計。
新型FDS6294具有非常低的Qgd,可為高頻、窄工作週期開關應用提供優良的性能。在筆記型電腦的高效率同步降壓電源設計中,極快的開關速度是不可缺少的。在這種應用中,如果器件不能迅速導通和關斷,一般較大的輸入至輸出電壓比率和跨越上橋MOSFET的大電壓擺動常會引起過大的開關損耗。FDS6294具有3nC (典型值) 的超低Miller電荷值 (Qgd),可以大幅縮短轉換時間,並結合最大值僅為3毫歐的低RDS(on),性能淩駕現有的方案。FDS6294採用SO-8封裝。
除了具有低Miller電荷、低RDS(on)、低Qg和Qgd:Qgs比率 (少於1) 的出色性能外,新型FDS7288N3並採用SO-8 FLMP封裝 (倒裝引腳鑄模封裝) ,這種先進的無引線封裝技術提供極低的晶片接面至外殼熱阻 (qJC)、低電氣阻抗,以及低封裝電感。低晶片接面至外殼熱阻是通過從封裝底部直接散放熱量而實現,使得該器件的效率較傳統封裝MOSFET高出許多。較低的電氣封裝阻抗可減少靜態損耗,而封裝電感的降低也可減少開關損耗。FDS7288N3具有出色的熱性能,最適合用於高電流密度DC-DC電源應用,常見於電腦伺服器、電信設備和網際網路集線器及路由器的POL轉換器中。
FDS7288N3和FDS6294結合FAN5093雙相控制器和驅動器組合,構成完整的POL解決方案。而FDS7096N3和FDS7288N3結合FAN5009驅動器和FAN5019控制器,會構成用於VRM伺服器應用的高效系統解決方案。
FDS7288N3屬於無鉛製程產品,能達到甚至超越IPC/JEDEC的J-STD-020B 標準要求,並符合將於2005年生效的歐盟標準。
快捷半導體技術市塲經理David Grey表示:“快捷半導體的新型快速開關MOSFET矽產品技術加上創新的封裝,較前一代MOSFET產品大幅提升了高階開關的性能和同步整流功能。”
價格: FDS6294每個0.78美元,FDS7288N3每個1.52美元 (均以訂購1,000個計)
供貨: 現貨
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