NEC現場指紋比對技術於NIST評比測試獨占鰲頭
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2009-04-22 00:00
前言:
美國國家標準與技術局(NIST)(註1)受美國國土安全部委託,於今年實施了「現場指紋比對技術評比測試」。在此次測試中,NEC的指紋比對技術被評為世界第一。
此次的評比測試,有眾多知名指紋比對技術廠商參加,NEC憑藉著優異的指紋辨識技術,遠勝過其他廠商(NEC以97.2%的高辨識率位居首位,第二名為87.8%、其次為 80.0%),展現了在指紋比對技術方面的優勢。NEC能夠達到如此高的辨識率,是由於強化了影像特徵點適應控制技術、以及區域特性比對技術,並以此為基礎,融合最新開發的現場指紋干擾消除技術、低品質隆線辨識技術等最先進的指紋影像處理技術。
現場指紋是指犯罪現場留下的指紋(接觸物體後留下的指紋痕跡)。而「現場指紋比對技術評比測試」,則是將835件現場指紋影像,與事先登錄的1萬人份(10萬隻手指)進行全自動比對後,根據辨識率進行評比。
一般而言,現場指紋並非全數清晰可見。有些指紋並不完整,有些則是發生指紋重疊的情形。在得不到完整的資訊時,就需要指紋鑑定專家追加比對時所需的指紋特徵資訊。這種人工作業所耗費的時間與精力,往往會阻礙搜查罪犯的進度。故為使搜查、破案更加順利,對於全自動比對技術的需求也隨之日益高漲。
本次「現場指紋比對技術評比測試」的主要目的是為了驗證現場指紋比對處理全自動化的可能性。實施方式為使用FBI系統,以隨機方式從實際的現場指紋中取樣以進行測試。測試結果顯示,NEC指紋辨識技術可達到97%的高辨識率,不僅提升了現場指紋全自動化比對技術的可能性,也獲得了高度評價。
「現場指紋比對技術評比測試」是針對惡性、廣域、多樣型犯罪,積極促進現場指紋自動處理技術的研發和快速商業化。此次測試獲得美國國土安全保障部、司法部、FBI、國防部U.SVisit Program等的支持與贊助,測試結果亦得到世界各地的廣泛關注。
NEC自1970年代起便致力於指紋比對技術的開發研究,並於1982年發表世界首度運用「Relation(特徵點間隆線數)」之高辨識率比對技術。而在過去由NIST所舉辦的大規模指紋相關技術評比中,NEC也於2003年的「指紋廠商技術評比(FpVTE2003)」、2004年的「指紋切割技術評比(Slap Seg04)」、2007年的「指紋廠商固有數據技術評比(PFT Study)」等多項評比中獨占鰲頭,在技術上獲得高度認同。現今,除了日本國內之外,美國加州等24個州及全球20個國家以上的警察・司法單位、入境管理局等皆採用NEC的指紋比對系統。
NEC將以此次成績作為原動力,計畫在往後3年內將指紋相關產品的銷售額提升至400億日元。並且在今後也將繼續向世界提供採用最先進技術的指紋比對系統。
NIST的「現場指紋比對技術評比測試」整體測試結果請參照NIST官方網站(http://fingerprint.nist.gov/latent/NISTIR_7577_ELFT_PhaseII.pdf及http://fingerprint.nist.gov/latent/)
注1:NIST:National Institute of Standards and Technology