宗臣科技採用 NI 虛擬儀控架構成功開發RFID高速產線量測技術
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2006-01-11 00:00
前言:
虛擬儀控的全球領導公司National Instruments (Nasdaq: NATI)表示,宗臣科技採用NI開放式的虛擬儀控架構,使用NI的 LabVIEW圖控式程式語言,搭配NI的PXI工業級量測平台及NI的RF模組儀器,成功開發RFID射頻訊號檢測(Radio Frequency Identification)測試系統,適合高速產線,亦可針對不同產業的RFID量測需求,提供客製化測試系統服務。
目前RFID這項新技術所具備的遠距離存取,高速辨識及資料讀出寫入等能力已相當受到各產業重視。針對研發這項新的技術,業界常見的解決方案受限於其封閉式的硬體測量架構,另一方面使用GPIB界面之儀器其資料傳輸也相當緩慢,「這使得我們難以使用傳統儀器來進行此系統之研發。」宗臣科技專案經理郭宗廷表示。
郭宗廷指出:「在導入了NI的虛擬儀控架構,包括PXI平台及RF模組儀器,以及使用LabVIEW軟體進行協定端的開發;再加上PXI本身具備PCI等級之傳輸速度 (132MB/s),使得層級四之RFID測試系統開發成為可能,可進行物理層,協定層及系統模擬等多項功能。由於NI虛擬儀控架構之高彈性,讓我們可以針對各式的研發或產線量測需求進行客製化修改。」
宗臣科技發表的RFID測試系統,最大的研發在於它具備「產線整合能力」,不但能和企業現有產線流程緊密結合;LabVIEW軟體更提供客製化進行資料庫存取,Word或Excel報表產生,遠端監控,或和其他軟體搭配之系統整合,因此,可針對不同產業的RFID量測需求,提供客製化測試系統之服務。
郭宗廷表示:「NI的PXI及LabVIEW產品在此RFID量測系統中扮演了相當重要的角色,不但提供了高彈性、高效能與合理價格,此外,NI售後服務及技術人員支援的專業及熱誠更是我們選擇NI的重要因素。」
此RFID量測系統,為一完整從物理層測到協定層(圖一),並可進行多樣化測試之量測方案;除了在研發端可提供詳細之量測資料以供產品驗測,亦可在產線端進行整合式產品測試。宗臣科技使用NI 的PXI-8196 2.0GHz Pentium M控制器,搭配PXI-5660向量訊號分析儀及PXI-5671向量訊號產生器來進行訊號的分析及產生。