宜捷威新推出LD高溫測試系統
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2006-02-24 00:00
前言:
Faztec Optronics宜捷威新推出之LD高溫測試系統,此LD測試系統打破美國日本同業以高單價獨佔市場之傳統,為採用IC BUTN-IN作法,烤箱內完全採用PCB和插座做為電流導通之介質,不採用易劣化之電線,且把高溫爐和控制室整合在一個機箱內,所以外部除了電源線外,看不到多餘之電線,整個系統在外觀上非常簡潔,並採用觸控螢幕做為人機界面,操作簡單易懂。
該公司行銷部門高達人經理指出FLT-704為LD驅動電流0~200mA與PIN-TIA驅動電壓0~10V,可由人機界面設定,每個Channel最高驅動電流為200mA。而此系統最大的特色是LD系統共有24個測試盤,並分成四組,即每盤64顆LD,每組6盤,PIN-TIA系統也有24個測試盤,分成二組,即每盤64顆PIN-TIA,每組12盤,兩者皆可獨立由觸控螢幕上設定燒測電流值與電壓值。LD在燒測時,TO-Can內的PD可同以5~25V的電壓,提供逆偏BURN-IN與 PD之逆偏電壓,二個OVEN也可獨立設定測溫度,溫度範圍R.T.~150℃,燒測時間為0~9999.9小時,同時實際燒測時間也會示在觸控螢幕上,當燒測時間結束時,系統會自動OFF電流、電壓、溫度,即本系統具有定時功能。且LD的腳位由驅動電路板上的跳接線選擇。
宜捷威科技為亞洲少數專注於光通訊量測的儀器供應商,由量測儀器整合起家的宜捷威,採代理與自行開發產品雙主軸策略,宜捷威係技術、行銷並重,且西進歐盟廣大市場,東掃日本競爭市場,並於國內武漢地區設立據點,搶進成為通訊測試品牌權威。目前Faztec Optronics 宜捷威之FLT-704 LD高溫測試系統已成為光通訊大廠華工正源、飛通、SAE等廠商之基本配屬設備。