從PC高速介面PCI Express，到儲存介面Serial ATA，再到數位視訊傳輸介面HDMI乃至DisplayPort等，以Giga位元資料率為主的高速串列技術正成為產業技術主流，但相對地也帶給研發設計者層層挑戰。將高速串列列為重要產品策略的Tektronix，日前提出一系列高速串列量測的完整方案，揭櫫該公司對該市場的承諾。
Gigabit資料率需要高頻寬測試，GHz頻寬效能可確保訊號完整性，也為特性描述與分析提供關鍵準確度，確保設計邊限的完整測試。以未來的8Gb/s PCI-Express 3.0基本頻率4.0GHz為例，其擷取第三諧波為14.4GHz，第五諧波達20GHz。對此，Tektronix 20GHz的DSA72004是唯一能夠擷取到第5諧波的新一代訊號產生即時示波器。
業界最快速的探棒提供 20 GHz的頻寬
台灣太克行銷協理張天生表示，為對應於業界最快速的4通道即時示波器DSA72004的高速應用，Tektronix 提供P7520 TriMode™ 量測切換探棒提供 20 GHz的頻寬。全新 P7520 探棒擁有 20 GHz 的頻寬，與 DSA72004 數位串列分析儀 (DSA) 示波器的頻寬相符，能為電氣工程師提供最先進的示波器與探棒組合。P7520 是 P7500 探棒系列的最新產品，在頻寬方面創新紀錄，且提供優異的訊號完整性、快速的上升時間、低電路負載、「尖嘴」形外觀，以及享有專利權的TriMode™ 量測切換功能。搭配 DSA72004 使用，P7520 能夠使研發工程師以高達10 Gbit/s的速度，進行高速串列資料電路的除錯與驗證。
所有Tektronix P7500系列的新探棒，都具備 TriMode 量測功能 (申請專利中)，以提供更高的效率與便利性。TriMode探棒功能，使工程師不需移動探棒連接，便能在差動、單端及共模量測間進行切換，因應目前市場需求。此功能使工程師僅需藉由單一探棒和單一設定，便可同步探測 3 個點以及執行 3 種不同的量測，由於免除了目前多重探棒和多重設定的需求， 因而進一步提升了工作效率。
由於連接探棒的晶片面積太小，工程師經常無法順利將探棒連接到待測裝置。P7520探棒體為流線型設計，因此能讓多個探棒同時插入有限的空間。可互換的探棒頭模組，提供微型焊入式探棒頭，而可互換的延長纜線，還可協助伸入不易探測的區域。此外，尖嘴型手持式的探棒模組，可同時適用於固定和手持式的應用上。
全球唯一的「單機」串列資料接收器測試解決方案
Tektronix 同時推出全新的進階軟體套件SerialXpress，可針對高速串列資料接收器測試，進行直接的波形合成，適用於測試 SATA、SAS、PCI-Express、HDMI，以及 DisplayPort 串列資料標準的理想工具，同時也適用於任何其他傳輸速度高達 6 Gbps 的串列匯流排技術。SerialXpress 控制這些波形的產生，以供 AWG7000 任意波形產生器系列的高速傳輸使用。SerialXpress 軟體套件提供操作簡單的介面，使高速串列波形的產生與管理更加直覺化。撘配 SerialXpress 軟體使用，AWG7000 成為全球唯一可適用於接收器壓力與誤碼率測試的單機高速串列資料訊號產生器，無需多重儀器與複雜的測試配置。
Tektronix 為SATA Gen-2 實體層首推完全自動化相容性測試套件
Tektronix發表全新 TekExpress™ 相容性測試自動化平台系統，以及全新 TekExpress SATA 自動化相容性測試軟體。在 TekExpress 平台系統上執行的 TekExpress SATA，運用經過核可的 Tektronix 串列資料效能儀器套件，使必要的接收器、發射器和相互連接的 SATA Gen-1 和 SATA Gen-2 相容性測試達100% 自動化。TekExpress 相容性自動化平台系統，已發展成自動化的高速串列資料標準單鍵測試。TekExpress 平台系統建立在國家儀器公司的 TestStand 之上，以此作為序列控制的引擎。
第二代串列資料匯流排架構，包括 SATA Gen-2，提供了比僅僅數年前大一個數量級的資料傳輸率。資料速率不斷加速，讓設計工作的挑戰性更大，並增加會影響上市時間、提高開發成本的設計複雜度。因此，設計師需要能夠展現更強大效能、更廣泛分析，以及更佳測試效率的強大測試設備和軟體。Tektronix 新型 TekExpress SATA 自動化相容性測試套件，可提供無人操控的 SATA Gen-1 和 SATA Gen-2 相容性測試，有助客戶簡化測試作業，並協助他們更快讓新產品上市。
從 Windows XP PC 進行控制的 TekExpress SATA，能有效率地執行由 SATA-IO 工作小組認證之實作方法 (MOI) 所要求的 153 SATA Gen-2 測試。TekExpress SATA 軟體可編排儀器設定和控制序列，在不到 3 小時的總測試時間內，為 SATA-IO 核准的所有四個 MOI 提供完整的認證測試結果。這代表相容性測試時間減少大約 70%，節省設計者在 SATA 設計驗證週期中耗費的寶貴時間。如需關於 TekExpress SATA 的詳細資訊，請上網：www.tektronix.com.tw/SATA。
TekExpress SATA 相容性測試所需要的設備，是高頻寬即時示波器 (DSA70000 系列數位串列分析儀)、高速串列訊號產生器 (AWG7102 任意波形產生器)，以及高頻寬的取樣示波器 (DSA8200 系列數位串列分析儀)。Tektronix DSA 示波器和 AWG 訊號產生器，提供測試所有世代的 SATA 裝置所需的效能，包括規劃中設定在 6 Gb/sec 下運作的 SATA Gen-3 規格。這些新一代的儀器和應用軟體解決方案，構成全新的完備高速串列資料測試平台。 TekExpress Framework 及MOI 模組即日起供貨。適用於接收器訊號群組(RSG)目前可供選購。搶先版適用於 TSG/PHY/OOB。其餘的 SATA 模組預計在 2008 年第二季結束前上市。
Gigabit資料率需要高頻寬測試，GHz頻寬效能可確保訊號完整性，也為特性描述與分析提供關鍵準確度，確保設計邊限的完整測試。以未來的8Gb/s PCI-Express 3.0基本頻率4.0GHz為例，其擷取第三諧波為14.4GHz，第五諧波達20GHz。對此，Tektronix 20GHz的DSA72004是唯一能夠擷取到第5諧波的新一代訊號產生即時示波器。
業界最快速的探棒提供 20 GHz的頻寬
台灣太克行銷協理張天生表示，為對應於業界最快速的4通道即時示波器DSA72004的高速應用，Tektronix 提供P7520 TriMode™ 量測切換探棒提供 20 GHz的頻寬。全新 P7520 探棒擁有 20 GHz 的頻寬，與 DSA72004 數位串列分析儀 (DSA) 示波器的頻寬相符，能為電氣工程師提供最先進的示波器與探棒組合。P7520 是 P7500 探棒系列的最新產品，在頻寬方面創新紀錄，且提供優異的訊號完整性、快速的上升時間、低電路負載、「尖嘴」形外觀，以及享有專利權的TriMode™ 量測切換功能。搭配 DSA72004 使用，P7520 能夠使研發工程師以高達10 Gbit/s的速度，進行高速串列資料電路的除錯與驗證。
所有Tektronix P7500系列的新探棒，都具備 TriMode 量測功能 (申請專利中)，以提供更高的效率與便利性。TriMode探棒功能，使工程師不需移動探棒連接，便能在差動、單端及共模量測間進行切換，因應目前市場需求。此功能使工程師僅需藉由單一探棒和單一設定，便可同步探測 3 個點以及執行 3 種不同的量測，由於免除了目前多重探棒和多重設定的需求， 因而進一步提升了工作效率。
由於連接探棒的晶片面積太小，工程師經常無法順利將探棒連接到待測裝置。P7520探棒體為流線型設計，因此能讓多個探棒同時插入有限的空間。可互換的探棒頭模組，提供微型焊入式探棒頭，而可互換的延長纜線，還可協助伸入不易探測的區域。此外，尖嘴型手持式的探棒模組，可同時適用於固定和手持式的應用上。
全球唯一的「單機」串列資料接收器測試解決方案
Tektronix 同時推出全新的進階軟體套件SerialXpress，可針對高速串列資料接收器測試，進行直接的波形合成，適用於測試 SATA、SAS、PCI-Express、HDMI，以及 DisplayPort 串列資料標準的理想工具，同時也適用於任何其他傳輸速度高達 6 Gbps 的串列匯流排技術。SerialXpress 控制這些波形的產生，以供 AWG7000 任意波形產生器系列的高速傳輸使用。SerialXpress 軟體套件提供操作簡單的介面，使高速串列波形的產生與管理更加直覺化。撘配 SerialXpress 軟體使用，AWG7000 成為全球唯一可適用於接收器壓力與誤碼率測試的單機高速串列資料訊號產生器，無需多重儀器與複雜的測試配置。
Tektronix 為SATA Gen-2 實體層首推完全自動化相容性測試套件
Tektronix發表全新 TekExpress™ 相容性測試自動化平台系統，以及全新 TekExpress SATA 自動化相容性測試軟體。在 TekExpress 平台系統上執行的 TekExpress SATA，運用經過核可的 Tektronix 串列資料效能儀器套件，使必要的接收器、發射器和相互連接的 SATA Gen-1 和 SATA Gen-2 相容性測試達100% 自動化。TekExpress 相容性自動化平台系統，已發展成自動化的高速串列資料標準單鍵測試。TekExpress 平台系統建立在國家儀器公司的 TestStand 之上，以此作為序列控制的引擎。
第二代串列資料匯流排架構，包括 SATA Gen-2，提供了比僅僅數年前大一個數量級的資料傳輸率。資料速率不斷加速，讓設計工作的挑戰性更大，並增加會影響上市時間、提高開發成本的設計複雜度。因此，設計師需要能夠展現更強大效能、更廣泛分析，以及更佳測試效率的強大測試設備和軟體。Tektronix 新型 TekExpress SATA 自動化相容性測試套件，可提供無人操控的 SATA Gen-1 和 SATA Gen-2 相容性測試，有助客戶簡化測試作業，並協助他們更快讓新產品上市。
從 Windows XP PC 進行控制的 TekExpress SATA，能有效率地執行由 SATA-IO 工作小組認證之實作方法 (MOI) 所要求的 153 SATA Gen-2 測試。TekExpress SATA 軟體可編排儀器設定和控制序列，在不到 3 小時的總測試時間內，為 SATA-IO 核准的所有四個 MOI 提供完整的認證測試結果。這代表相容性測試時間減少大約 70%，節省設計者在 SATA 設計驗證週期中耗費的寶貴時間。如需關於 TekExpress SATA 的詳細資訊，請上網：www.tektronix.com.tw/SATA。
TekExpress SATA 相容性測試所需要的設備，是高頻寬即時示波器 (DSA70000 系列數位串列分析儀)、高速串列訊號產生器 (AWG7102 任意波形產生器)，以及高頻寬的取樣示波器 (DSA8200 系列數位串列分析儀)。Tektronix DSA 示波器和 AWG 訊號產生器，提供測試所有世代的 SATA 裝置所需的效能，包括規劃中設定在 6 Gb/sec 下運作的 SATA Gen-3 規格。這些新一代的儀器和應用軟體解決方案，構成全新的完備高速串列資料測試平台。 TekExpress Framework 及MOI 模組即日起供貨。適用於接收器訊號群組(RSG)目前可供選購。搶先版適用於 TSG/PHY/OOB。其餘的 SATA 模組預計在 2008 年第二季結束前上市。
