安捷倫與Hynix聯手推出適用於DDR、GDDR記憶體驗證的長線ZIF探針頭

安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈與全球最大的先進半導體記憶體產品供應商Hynix半導體公司，合作生產一款為DDR（雙倍資料速率）和GDDR（繪圖雙倍資料速率）SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線ZIF（zero insertion force；零插力）探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的信號時，能準確地量測高速信號。這些探針頭可搭配安捷倫得獎的InfiniiMax和ZIF探量系統使用，提供了較佳的可用性和較低的焊接成本。

該探量選項可解決DDR設計的一個基本挑戰：它可以讓工程師探量DRAM晶片上難以觸及的位置，同時保持信號的完整性。隨著DDR和GDDR SDRAM元件的速度愈來愈快，以及設計邊限不斷地縮小，探量系統的效能顯得格外重要。長線ZIF探針頭，正足以克服該項探量挑戰。

DDR和GDDR驗證的另一項挑戰是，依據JEDEC規格所需測試的信號數。長線ZIF探針頭的設計，可讓工程師在SDRAM元件上所要探量的多個信號間輕易地切換。

該產品使DDR記憶體設計的相容性測試需求更臻完整。


台灣安捷倫科技總經理張志銘指出：「我們相當重視客戶的需求。我們的專家與Hynix等業界領導廠商及各個標準制定組織，一直維持密切合作的關係。藉此我們得以迅速因應各項變化，從而提升量測的效率與準確度。我們有適合的工具 – 從BGA探量技術到相容性測試軟體 – 可以協助工程師加快DDR和GDDR記憶體設計的驗證。」

有關安捷倫N5451A InfiniiMax差動式長線ZIF探針頭的詳細資訊，請上網查詢www.agilent.com/find/n5451a。