安捷倫將於OFC/NFOEC 2009展覽會上展出業界首款適用於40/100G實體層測試的光學調變分析儀

本文作者:admin       點擊: 2009-03-23 00:00
前言:
安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)發表業界首款基於時域的光學調變分析儀,其可深入分析經振幅與相位調變的光學信號。此款光學測試儀器,是與安捷倫實驗室Agilent Labs共同開發而成。這是一款結合大頻寬、多偏振相干光接收器技術、Agilent 89600向量信號分析軟體(VSA)、以及安捷倫高速即時資料蒐集設備Infiniium 90000系列示波器為基礎的測試儀器。

安捷倫將於3月23-26日,在加州聖地牙哥會議中心舉辦的OFC/NFOEC 2009展覽會上展示Agilent N4391A光學調變分析儀,歡迎蒞臨1719號攤位參觀。

該儀器是第一款基於時域分析的相干偵測系統,其提供一個彈性最高的統包解決方案(turn-key solution),可深入分析經振幅與相位調變的光學信號,讓科學家和工程師得以迅速檢驗他們的設計。

隨著網際網路的廣泛建置,市場對於傳輸能力的要求不斷地提高。這個現象促使現今的10 Gb/s傳輸速率,在未來幾年內提升到40 Gb/s和100 Gb/s。

光學產業所面臨的挑戰是,如何讓100 Gb/s的傳輸速率能夠配合傳統的50 GHz ITU-T通道光柵。克服該挑戰唯一的方法,就是結合無線與RF微波領域複雜的調變技術,因為該技術在20年前以較低的資料速率解決了這個問題。解決方法是利用先進的光學調變模式來處理大量的資訊,以減少所需的收發器頻寬。

Mintera Corp產品行銷副總裁Niall Robinson表示:「該測試儀器為光學產業填補了缺口,如今工程師將可以深入洞察,採用先進光學調變模式的發射器與鏈路的行為。」

先進的光學調變模式,包含了振幅、相位和極化資訊。為了開發新的光發射器和光接收器,有必要分析這些信號在兩個正交極化狀態下的振幅與相位行為。現有的測試儀器只能分析光學信號的振幅,因而在測試儀器市場留下了一個缺口。Agilent N4391A光學調變分析儀提供了一些新的分析工具,例如解調信號的衛星平面顯示,以及可比較錯誤與理想信號的差錯向量幅度(Error Vector Magnitude, EVM)分析,正好可以彌補這個缺口。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「我們的光學調變分析儀提供一個高度彈性的統包解決方案,可作為根據先進調變模式來開發傳輸系統的參考系統。該儀器對傳輸系統與元件供應商的科學家、開發工程師和品質工程師來說是很實用的工具,可支援新一代高速光通訊網路的發展。」

Agilent N4391A光學調變分析儀的功能包括:

o光學相干接收器支援100G以上的傳輸速率。

o完全支援DPSK/DQPSK,包括極化多工(Polarization Multiplexing)。

o光接收器頻寬大於37 GHz(74 GHz光學)。

o34種數位調變格式。

o20種可客製化資料分析工具。

有關Agilent N4391A光學調變分析儀的更詳細資訊,請上網查詢www.agilent.com/find/oma。

安捷倫科技小檔案

安捷倫科技(NYSE:A)是全球首屈一指的量測公司,在通訊、電子、生命科學及化學分析技術領域領先全球。安捷倫科技的員工總數約為20,000人,服務的客戶遍佈全球110多個國家。2008會計年度,安捷倫科技的營收達58億美元。有關安捷倫科技更詳細的資訊,可查詢www.agilent.com網站。

電子郵件:look@compotechasia.com

聯繫電話:886-2-27201789       分機請撥:11