測試、量測和監測儀器的領導廠商Tektronix宣佈推出適用於 Superspeed USB (USB 3.0) 裝置之特性分析、除錯和自動化相容性測試的全新完整工具組。全新的選項 USB-TX搭配 DPO/DSA70000B 示波器，提供可驗證USB 3.0發送器裝置的單鍵式解決方案，使工程師能夠以更有效率的方式，將其設計產品推出上市。此外，該公司亦推出全套的 USB 3.0 測試治具，讓工程師能夠執行更準確的「發送器」、「接收器」和「纜線」測試。
由於對資料傳輸速度的需要愈來愈快，USB 3.0 的效能表現遠較目前的USB 解決方案高出十倍，使系統及電路設計人員得以克服種種多重挑戰。頻寬不斷的增加帶來了重要的訊號傳輸與訊號完整性的挑戰，進而需要準確度更高且具豐富多樣功能的測試解決方案。當其他業界產品僅支援符合 USB-IF 電氣測試規格的標準量測之際，Tektronix 選項 USB-TX 可支援標準測試以及具有資訊參考性的所有測試，如展頻時脈 (SSC)、迴轉率、電壓位準及其他測試項目。這樣可讓客戶對於本身的設計驗證過程具有十足信心。
其他可用的解決方案僅支援特定相容性標準，而 Tektronix USB-TX 卻可提供完整且全面的特性分析、除錯和相容性工具組。Tektronix USB3.0 測試解決方案整合獨一無二的插座型式測試治具，能在探測時盡可能接近矽晶，以提供最真實的代表性訊號。
Fresco Logic 技術長 Bob McVay 表示：「我們已可預見此一全新的Tektronix Superspeed USB 測試解決方案，並期待其促使 Fresco Logic 的 USB 3.0 晶片設計製程生產力顯著成長。AWG7000 支援接收器耐受度測試，並可快速從發送器相容性測試環境移至除錯環境，能夠大幅節省寶貴時間。」
支援高速串列標準的自動化平台系統
選項 USB-TX 建置於 TekExpress 平台系統，專用於高速串列資料標準的自動化單鍵測試。TekExpress 模組是以標準組織指定與公佈的測試需求和「實作方法」(MOI) 為基礎。所有測試步驟均採自動化，使客戶僅需選擇想要的測試，即可獲得含有通過/失敗與邊際分析結果的完整報告。除了全新的 USB 3.0 產品外，目前亦推出支援 SATA 和 DisplayPort 的自動化模組。
「TekExpress 採取高速串列資料測試的推測工作 (guess-work)。客戶在當今環境中往往需要採行多重標準，但要精通所有標準成為其中的專家實為一大挑戰。」Tektronix 技術解決方案事業集團總經理 Ian Valentine 表示，「TekExpress 提供必要的專業服務，讓客戶專注於設計以利產品順利上市。」
完整的發送器、接收器和纜線測試解決方案
USB 與其他高速串列標準 (例如 8 Gb/s PCI Express 和 SATA 6 Gb/s) 都是需要更嚴苛技術的標準，新近推出且領先業界的 Tektronix DPO/DSA70000B 示波器便是這些技術的必備進階量測儀器。Tektronix 即時示波器具有高達 20 GHz 的頻寬，可提供業界最佳的訊號完整性、最低的雜訊基準，以及數目最多的有效位元 (ENOB)，且擁有更大更完整的邊際，以符合要求嚴苛的相容性與除錯測試。對於「接收器」測試方面，Tektronix AWG7000B 任意波形產生器是唯一能夠在單一儀器上產生所有必要減損訊號的解決方案。DSA8200 取樣示波器亦提供「纜線與通道量測」解決方案。
供貨狀況
測試治具將於 2009 年夏季正式上市。
由於對資料傳輸速度的需要愈來愈快，USB 3.0 的效能表現遠較目前的USB 解決方案高出十倍，使系統及電路設計人員得以克服種種多重挑戰。頻寬不斷的增加帶來了重要的訊號傳輸與訊號完整性的挑戰，進而需要準確度更高且具豐富多樣功能的測試解決方案。當其他業界產品僅支援符合 USB-IF 電氣測試規格的標準量測之際，Tektronix 選項 USB-TX 可支援標準測試以及具有資訊參考性的所有測試，如展頻時脈 (SSC)、迴轉率、電壓位準及其他測試項目。這樣可讓客戶對於本身的設計驗證過程具有十足信心。
其他可用的解決方案僅支援特定相容性標準，而 Tektronix USB-TX 卻可提供完整且全面的特性分析、除錯和相容性工具組。Tektronix USB3.0 測試解決方案整合獨一無二的插座型式測試治具，能在探測時盡可能接近矽晶，以提供最真實的代表性訊號。
Fresco Logic 技術長 Bob McVay 表示：「我們已可預見此一全新的Tektronix Superspeed USB 測試解決方案，並期待其促使 Fresco Logic 的 USB 3.0 晶片設計製程生產力顯著成長。AWG7000 支援接收器耐受度測試，並可快速從發送器相容性測試環境移至除錯環境，能夠大幅節省寶貴時間。」
支援高速串列標準的自動化平台系統
選項 USB-TX 建置於 TekExpress 平台系統，專用於高速串列資料標準的自動化單鍵測試。TekExpress 模組是以標準組織指定與公佈的測試需求和「實作方法」(MOI) 為基礎。所有測試步驟均採自動化，使客戶僅需選擇想要的測試，即可獲得含有通過/失敗與邊際分析結果的完整報告。除了全新的 USB 3.0 產品外，目前亦推出支援 SATA 和 DisplayPort 的自動化模組。
「TekExpress 採取高速串列資料測試的推測工作 (guess-work)。客戶在當今環境中往往需要採行多重標準，但要精通所有標準成為其中的專家實為一大挑戰。」Tektronix 技術解決方案事業集團總經理 Ian Valentine 表示，「TekExpress 提供必要的專業服務，讓客戶專注於設計以利產品順利上市。」
完整的發送器、接收器和纜線測試解決方案
USB 與其他高速串列標準 (例如 8 Gb/s PCI Express 和 SATA 6 Gb/s) 都是需要更嚴苛技術的標準，新近推出且領先業界的 Tektronix DPO/DSA70000B 示波器便是這些技術的必備進階量測儀器。Tektronix 即時示波器具有高達 20 GHz 的頻寬，可提供業界最佳的訊號完整性、最低的雜訊基準，以及數目最多的有效位元 (ENOB)，且擁有更大更完整的邊際，以符合要求嚴苛的相容性與除錯測試。對於「接收器」測試方面，Tektronix AWG7000B 任意波形產生器是唯一能夠在單一儀器上產生所有必要減損訊號的解決方案。DSA8200 取樣示波器亦提供「纜線與通道量測」解決方案。
供貨狀況
測試治具將於 2009 年夏季正式上市。
