安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）宣佈推出Agilent 8500場發射型掃描式電子顯微鏡（FE-SEM）。Agilent 8500是一個小型系統，它為研究人員提供了在他們自己的實驗室，進行低電壓、高效能成像（imaging）所需的場發射型掃描式電子顯微鏡。
創新的Agilent 8500經最佳化後可提供低電壓成像能力，超高的表面對比，以及通常只有在較昂貴的大型場發射型顯微鏡中才看得到的解析度。Agilent 8500 FE-SEM的大小與雷射印表機差不多，並且提供方便的即插即用（plug-and-play）效能。不需要用到專屬的設備，只要一個交流電源插座就夠了。獨特的科學等級系統提供了好幾種成像技術，可增加材料的表面對比。透過Agilent 8500可觀察各種奈米結構材料上的奈米特性，包括任何基板（甚至玻璃）上的聚合物、薄膜、生物材料、以及其他能量敏感度高的樣本。
台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示：「新的Agilent 8500為一般實驗室的研究人員，提供以往只有在傳統、集中式的FE-SEM才看得到的各種強大功能。這款高精確度的先進解決方案，反應了安捷倫對奈米量測市場的強烈承諾。」
Agilent 8500 FE-SEM在非導電樣本的處理上可以不需要鍍膜，因鍍膜可能遮蔽奈米特性；也不需藉助加壓操作，加壓操作可能會降低解析度。連續改變的成像電壓可以當成一個操作參數在500 V到2000 V的範圍內進行調整，而非當作一個設定選項。此外，該系統使用一個四段式微通道板（MCP）偵測器，沿著兩個正交方向提供拓樸成像，以增加表面細節。該技術已被證實可清楚解析結晶物質（例如多形體結構的6H-SiC）表面上的次奈米原子台階。
矽基微製造（Silicon-based microfabrication）技術，讓安捷倫得以設計和製造一個小型的靜電電子束，並將它與場發射型電子源結合以構成Agilent 8500。Schottky場發射型電子源可提供高亮度及一致、持久的效能。該系統的輔助和反向散射電子偵測功能，可為每個樣本提供豐富的資料。
Agilent 8500的靜電鏡頭設計提供了可重複的效能，不像傳統SEM的電磁鏡頭因為磁滯的關係必須不斷地縮回。XYZ可程控階段（programmable stage）可讓研究人員立即儲存及回到任何操作設定，這使得Agilent 8500成了多使用者環境的最佳選擇。
FE-SEM儀器小檔案
安捷倫科技為研究、工業與教育領域，提供了高精確度、低持有成本的小型FE-SEM解決方案。經驗豐富的應用科學家和技術服務人員，會為客戶提供完善的全球性支援。安捷倫先進的研發實驗室，保證可適時推出經過最佳化的創新且容易操作的技術。
