隨著 LED 的發展與技術越來越成熟,其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場,根據LEDinside資料顯示,今年 LED 液晶電視機背光模組的滲透率可達 40 ~ 50 % ,且 LED 照明市場因應綠能與環保的需求,勢必會成為主流,預估 LED 的市場需求將成倍數成長,如何提高產能與降低測試成本已經成為當前主要的課題,最佳的解決方案必然是要利用半導體測試中普遍使用的多點測試技術,以提高產能與降低成本,美商國家儀器 (National Instruments, NI) 與順英科技將針對現今最熱門的 LED 測試技術,為您介紹最新 PXI 技術如何應用於 LED 光電多點測試,以達到 LED 最佳測試效能。
目前市場上多數的產品都只提供單點測試的功能,而且SMU及其他關鍵零組件多採自行設計方式。此次研討會中所推出完整的 LED 多點測試系統,不論是電學或光學特性的量測,均可提供完整的測試規畫,協助工程師完整建立 LED 生產線測試系統。
本研討會將於7/20 (三) 於新竹科學園區 科技生活館 201 室舉行。美商國家儀器竭誠歡迎各相關領域的專家學者一同與會,一起為LED 的先進技術共同努力。
【活動報名方法】
活動時間:2011.7.20 (三) 13:10~16:40
活動地點:新竹科學園區 科技生活館 203 室
(新竹市科學園區工業東二路 1號)電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
Email報名 : info.taiwan@ni.com
網路報名:
ni.com/taiwan/seminar
【有關 NI 美商國家儀器】
NI (www.ni.com/zht/) 正轉變著設計、原型製作,與佈署系統的方式;並適用於量測、自動化,與嵌入式應用。NI 提供現成軟體 (如 LabVIEW) 與模組化的高成本效益硬體,並銷售全世界超過 30,000 家不同的公司。在 2010 年,沒有任何單一客戶可佔 NI 營收的 4% 以上,亦沒有任何單一產業可佔 NI 營收的 15% 以上。足見 NI 產品應用領域之廣泛。NI 總部位於美國德州奧斯汀,有超過 5,500 名員工,並已於超過 40 個國家設有直營分公司或辦事處。NI 已連續第 12 年榮獲財富雜誌 (FORTUNE) 評選為美國百大最佳工作環境的公司之一。