設備軟體最佳化(DSO)領導廠商Wind River Systems (NADSAQ: WIND)宣佈開始供應Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test解決方案，此一遵循業界標準的創新方案讓測試與製造工程師從此能在生產現場直接診斷硬體問題。這項功能強大的新方案能協助製造商提高生產線產能、更有效率地驗證完工產品，減少報廢率(scrap)和重做率(rework)，也能針對個別需求輕易地建立客製化的測試應用。此外，On-Chip Debugging for Manufacturing and Test能夠與邊界掃描器、邏輯分析儀和示波器等客戶既有的工具搭配以發揮更大的效用，可保護客戶的既有投資。
不同於市場上僅著重設備硬體和軟體開發的其他產品，Wind River的方案不僅結合了其在on-chip 除錯方案領域中的領先技術與特有的測試及製造工具，並且預先整合了美國國家儀器(NI)革命性的LabVIEW平台與開發環境。Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test包括了Wind River ICE和Wind River Probe模擬器、Wind River On-Chip Debugging 應用程式介面和Utility JTAG測試方案、以及NI LabVIEW Virtual Instrument Driver。它能協助製造商達成下列目標：
-精簡製造過程中的測試程序，因為待測元件(device under test; DUT)不需要達到完整運作的階段即可進行測試。
-透過目標CPU與記憶體子系統的分析和除錯，以縮短製造過程中的除錯程序。
-簡化冗長的測試與自動化系統建置，減少測試／製造成本並改善製造週期時間。
-利用自動化測試以提供一致且可預測的結果。
美國國家儀器(請放中文NI的名稱)公司嵌入式系統部門總監Greg Crouch表示：「隨著嵌入式設備製造的日趨複雜化，運用on-chip除錯技術以強化既有生產測試管理計畫的價值也越來越顯著。這個趨勢表示製造者除了傳統邊界掃描測試之外，還需要擁有能結合快閃程式設計和on-chip軟體測試與驗證的方案，以確保設備功能並有效排除缺陷。透過與我們LabVIEW的整合，Wind River On-Chip Debugging延伸了LabVIEW的強大測試管理能力和先進報表機制，讓客戶能更快更有效率地將產品推出市場。」
Wind River副總裁暨On-Chip Debugging總經理Sandy Orlando表示：「Wind River了解嵌入式設備的開發過程中，所涉及的複雜性越來越高，並且涵蓋包括製造與測試在內的整個產品開發生命週期。透過Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test方案，我們的客戶將能在較短的時間內，進行更多徹底的測試以提升製造產能，並在製造程序後期進行缺陷排除、因而減少報廢品的庫存同時降低製造成本。我們和NI的夥伴關係，讓雙方共同的客戶能夠輕易的建立客製化方案，以符合客戶獨特的生產環境需求。」
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test功能強化這個版本在On-Chip除錯功能方面的強化包括：
-Memory Upload Utility –開發者可選擇目標晶片上的特定記憶體區域，擷取資料並儲存到Host PC檔案系統內。這項功能允許測試與製造工程師在目標晶片上載入和執行測試程式，擷取儲存在特定記憶體區域的測試結果，並將結果存檔以供未來參考和分析。
-強化虛擬儀表支援 – Wind River透過建立較高階的虛擬儀表(Virtual Instrument; VI)，進一步強化On-Chip Debugging API與NI LabVIEW之間的整合。新的虛擬儀表讓LabVIEW使用者更容易建立他們自己的客製化測試應用。
-延伸處理器支援
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test支援廣泛的處理器和架構。Wind River支援內建下列處理器的多核心設備：
Broadcom Sibyte：BCM1125、1125H、1250、1255、1280、1455
Intel XScale：IOP 342
Freescale：MPC8641D Rev 2.0
PA Semi：PA6T-1682M
此外，Wind River也持續致力於支援主要設備軟體架構，包括：
ARM：ARM Thumb 2、Cortex M3以及Freescale和ATMEL的系統單晶片(SoC)
CF：Freescale系統單晶片
MIPS：Broadcom系統單晶片
Power：PA Semi PA6T-1682M
PowerPC：Freescale和ATMEL系統單晶片
XScale：Intel系統單晶片
產品供應
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test現在供應中，有關該方案及其他Wind River On-Chip除錯的相關資訊，請參觀http://www.windriver.com/products/OCD/
不同於市場上僅著重設備硬體和軟體開發的其他產品，Wind River的方案不僅結合了其在on-chip 除錯方案領域中的領先技術與特有的測試及製造工具，並且預先整合了美國國家儀器(NI)革命性的LabVIEW平台與開發環境。Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test包括了Wind River ICE和Wind River Probe模擬器、Wind River On-Chip Debugging 應用程式介面和Utility JTAG測試方案、以及NI LabVIEW Virtual Instrument Driver。它能協助製造商達成下列目標：
-精簡製造過程中的測試程序，因為待測元件(device under test; DUT)不需要達到完整運作的階段即可進行測試。
-透過目標CPU與記憶體子系統的分析和除錯，以縮短製造過程中的除錯程序。
-簡化冗長的測試與自動化系統建置，減少測試／製造成本並改善製造週期時間。
-利用自動化測試以提供一致且可預測的結果。
美國國家儀器(請放中文NI的名稱)公司嵌入式系統部門總監Greg Crouch表示：「隨著嵌入式設備製造的日趨複雜化，運用on-chip除錯技術以強化既有生產測試管理計畫的價值也越來越顯著。這個趨勢表示製造者除了傳統邊界掃描測試之外，還需要擁有能結合快閃程式設計和on-chip軟體測試與驗證的方案，以確保設備功能並有效排除缺陷。透過與我們LabVIEW的整合，Wind River On-Chip Debugging延伸了LabVIEW的強大測試管理能力和先進報表機制，讓客戶能更快更有效率地將產品推出市場。」
Wind River副總裁暨On-Chip Debugging總經理Sandy Orlando表示：「Wind River了解嵌入式設備的開發過程中，所涉及的複雜性越來越高，並且涵蓋包括製造與測試在內的整個產品開發生命週期。透過Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test方案，我們的客戶將能在較短的時間內，進行更多徹底的測試以提升製造產能，並在製造程序後期進行缺陷排除、因而減少報廢品的庫存同時降低製造成本。我們和NI的夥伴關係，讓雙方共同的客戶能夠輕易的建立客製化方案，以符合客戶獨特的生產環境需求。」
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test功能強化這個版本在On-Chip除錯功能方面的強化包括：
-Memory Upload Utility –開發者可選擇目標晶片上的特定記憶體區域，擷取資料並儲存到Host PC檔案系統內。這項功能允許測試與製造工程師在目標晶片上載入和執行測試程式，擷取儲存在特定記憶體區域的測試結果，並將結果存檔以供未來參考和分析。
-強化虛擬儀表支援 – Wind River透過建立較高階的虛擬儀表(Virtual Instrument; VI)，進一步強化On-Chip Debugging API與NI LabVIEW之間的整合。新的虛擬儀表讓LabVIEW使用者更容易建立他們自己的客製化測試應用。
-延伸處理器支援
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test支援廣泛的處理器和架構。Wind River支援內建下列處理器的多核心設備：
Broadcom Sibyte：BCM1125、1125H、1250、1255、1280、1455
Intel XScale：IOP 342
Freescale：MPC8641D Rev 2.0
PA Semi：PA6T-1682M
此外，Wind River也持續致力於支援主要設備軟體架構，包括：
ARM：ARM Thumb 2、Cortex M3以及Freescale和ATMEL的系統單晶片(SoC)
CF：Freescale系統單晶片
MIPS：Broadcom系統單晶片
Power：PA Semi PA6T-1682M
PowerPC：Freescale和ATMEL系統單晶片
XScale：Intel系統單晶片
產品供應
Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test現在供應中，有關該方案及其他Wind River On-Chip除錯的相關資訊，請參觀
