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愛德萬測試推出全新PVI8浮動電源供應單元，為V93000平台提升高電壓大電流測試能力

本文作者：愛德萬測試點擊： 2014-07-03 12:10

前言：

備受肯定的測試平台憑藉強化方案滿足系統單晶片市場快速成長的整合需求

2014年7月3日--半導體測試設備領導者愛德萬測試推出全新PVI8浮動電源供應單元，強化旗下市場領導測試平台V93000對嵌入式電源元件進行高電壓大電流測試的能力。這套強化方案可為V93000在單一系統上供應足夠的電源與充足的類比及數位通道，使該平台足以提高嵌入式電源IC元件並行同測數，為一極具成本效益的測試解決方案。

愛德萬測試SoC事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「現今系統單晶片高度整合了數位、類比、高速與高功率等多種功能，這套全新測試解決方案正是針對此發展潮流所開發。藉由提供內建嵌入式電源功能與其他複雜電源元件的微控制器足以進行大量並行測試，愛德萬測試率先業界為因應這些元件快速發展之需所提供的通道密度，也將為全球半導體業者帶來極高經濟效益。」

PVI8提供八個浮動通道，具四象限運作功能，每個通道最高可輸出80伏特10安培的電力，八個通道也可集結一起提供最高±80安培的電流，可以最嚴謹的方式對待測物進行高電源的強壓測試。此外，PVI8採浮動設計，對於高電壓需求的元件，也可提供±160 伏特的電壓輸出。

PVI8的量測範圍並不會受到供電範圍的限制，因此操作人員可以自由選取量測範圍，待測物也不會因此發生電壓或電流突波、電源切斷、電路閂鎖效應或元件受損等問題。

PVI8採透過測試圖碼控制的方式運作，不需與測試系統的CPU互動，可大幅加速在電源測試所需時間，而且能夠藉由維持恆定測試圖碼速率及短電源脈衝的運作，達到極穩定量測結果，以避免待測物發生過熱現象。

每個電源電壓電流通道都有各自的測試處理器與高達56MB的記憶體，足以滿足16位元任意波形產生器 (AWG) 及全圖碼控制數位器的操作需求，所搭配的高容量的記憶體使得採圖碼控制的測試單元在執行測試過程中，不必重新載入所需的電壓電流波形，即可在一次圖碼序列中反覆執行多種測試項目。

愛德萬測試現已向全球客戶供應PVI8浮動電源供應單元，客戶可選擇在V93000測試機台出廠時直接置入，或在安裝機台後做為升級選購。

關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。

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