NI 透過 PXI 架構的測試系統，降低半導體 ATE 的成本
前言：
開放的平台式方案結合了模組化儀器與系統設計軟體，適用於 RF 和混合式訊號生產測試
2014年8月5日--美商國家儀器提供了最佳的解決方案，協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰，並於今天推出 NI 半導體測試系統 (Semiconductor Test System，簡稱 STS) 系列。基於 PXI 架構的自動化測試系統，針對半導體生產測試環境的 PXI 模組，有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本。相較於傳統的半導體自動化測試設備 (ATE)，STS 先期使用者都證實了 STS 有助於降低生產成本、提高產能，而且還可以透過相同的硬體和軟體工具，同時執行特性測試與生產作業。這樣一來即可更快建立資料關聯並縮短上市時間。
「由於積體電路越變越複雜，所以可針對設計檢驗甚至是末期生產測試等應用提供最佳測試範圍、同時兼具成本效益的 ATE 也變得越來越重要」，Infineon Technologies 車體傳動產品的資深設計與應用工程師 Dr. Hans-Peter Kreuter 解釋：「就混合式訊號測試而言，PXI 架構的 STS 效能遠勝過傳統的 ATE，能夠以相當低的成本提供最理想的測試範圍。」
不同於傳統 ATE 的封閉式架構，STS 具有開放式的模組化架構，可協助工程師運用先進的 PXI 儀器。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要，因為傳統 ATE 的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。STS 搭載 TestStand 測試管理軟體和 LabVIEW 系統設計軟體，針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合，包含可客制化的操作介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能，工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成佈署，縮短整體的上市時間。此外 STS 還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構，可立即整合至半導體生產測試單元。
「由於測試系統不停汰換，或者無法滿足新的測試需求，因此傳統的 ATE 系統往往伴隨著高額的測試工具替換成本，不過 STS 的開放式 PXI 架構卻可以讓我們保有原本的投資，並且以此為基礎持續擴充，不必淘汰任何設備」，Integrated Device Technology (IDT) 測試總監 Glen Peer 指出：「此外還有出色的彈性，有助於重新設定測試平台並加以擴充，以便因應不斷成長的效能需求。」
STS 系列提供三種不同的機型：T1、T2、T4，分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項，再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構，可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外，便於擴充的 STS 還可以佈署至特性測試甚至是生產環境，藉此優化成本效益、大幅簡化建立資料關聯的程序，進而縮短上市時間。
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