NI 推出強化版半導體測試管理軟體
前言：
可客制的現成測試執行新增了多地點裝置功能、報表製作與分類機/針測機介面，有助於建立更具智慧效能的測試系統
2016年3月31日--NI 國家儀器 (National Instruments，簡稱 NI) 作為致力於為工程師與科學家提供解決方案以應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商，於今日宣佈推出 TestStand 半導體模組 (TestStand Semiconductor Module)，為測試系統工程師提供所需的軟體工具來快速開發、佈署並維護最佳化的半導體測試系統。
借助 TestStand 半導體模組，工程師能運用與半導體測試系統 (STS) 佈署在廠房內一樣的程式設計方式，在實驗室進行特性測試，進而降低建立量測結果關聯所需的時間。TestStand 半導體測試模組( TestStand Semiconductor Module) 採用全球超過一萬名開發人員使用的 TestStand 工業標準測試管理軟體，幫助用戶使用 PXI 和 TestStand 功能自行搭建半導體測試所需的基架構式系統，而不需要採用STS 傳統的「測試頭」架構。
「NI 透過開放式軟體與模組化硬體，持續降低半導體測試的成本」，NI 半導體測試副理 Ron Wolfe 表示：「我們於 2014 年推出了 STS，為開放式的工業標準 PXI 平台新增了半導體專屬功能。TestStand 模組是針對半導體特性測試、生產測試的各種需求所設計，現在我們就是運用此模組來提升測試開發的生產力。」
TestStand 半導體模組提供獨特的半導體測試功能，有助於降低開發成本、提高產能。其功能包含：
• 動態多點程式設計，能夠針對不同數量的測試站點，重複使用程式碼
• 直覺式的 Pin Map Editor，包含 PXI 與第三方儀控
• 標準測試資料格式 (STDF) 結果處理器，能夠針對參數測試結果執行工業標準記錄
• 動態多點程式設計，能夠針對不同數量的測試站點，重複使用程式碼
• 直覺式的 Pin Map Editor，包含 PXI 與第三方儀控
• 標準測試資料格式 (STDF) 結果處理器，能夠針對參數測試結果執行工業標準記錄
TestStand 半導體模組強化了 NI 在半導體測試上持續成長的服務，其中包含 STS、上百種高效能 PXI 儀器，以及強大的軟體，例如 TestStand 與 LabVIEW 系統設計軟體。 透過更智慧型的 NI 平台方案，半導體廠商便能針對 RF 與混合式訊號測試降低成本、提高產能。
如需了解領導廠商如何透過 TestStand 半導體模組降低測試成本，請前往 sine.ni.com/np/app/main/p/docid/nav-94/lang/zht/fmid/11838/。
LabVIEW、National Instruments、NI, ni.com 、 NI TestStand 均為 NI 的註冊商標。 所列的其他產品與公司名稱，均屬於該公司的註冊商標。
【 關於NI國家儀器 】
從 1976 年以來，NI (www.ni.com) 針對產能、創新、開發等作業，持續提供高效率的平台式系統工具給工程師與科學家。NI 圖形化系統設計 (GSD) 整合式軟硬體平台，協助工程師和科學家提高效率和加速創新，解決全球面臨的重大工程挑戰。從醫療、汽車、消費電子產品到粒子物理等各行各業的客戶，均使用 NI 圖形化系統設計平台以改善人類的生活的環境。進一步了解 NI 國家儀器：http://taiwan.ni.com
從 1976 年以來，NI (www.ni.com) 針對產能、創新、開發等作業，持續提供高效率的平台式系統工具給工程師與科學家。NI 圖形化系統設計 (GSD) 整合式軟硬體平台，協助工程師和科學家提高效率和加速創新，解決全球面臨的重大工程挑戰。從醫療、汽車、消費電子產品到粒子物理等各行各業的客戶，均使用 NI 圖形化系統設計平台以改善人類的生活的環境。進一步了解 NI 國家儀器：http://taiwan.ni.com
