愛德萬測試發布最新模組 大幅提升EVA100測量系統針對高解析、高速IC的測試能力
前言：
採用最新HF-AWGD模組 除錯、驗證高精準度16位元ADC與運算放大器更快更容易
2017年2月28日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試（Advantest；TSE: 6857）發布最新HF-AWGD（高頻任意波形產生器與示波器）模組，進一步擴充EVA100測量平台的功能，將高解析、高速類比裝置的測試也納入其中。有了新模組加持，EVA100系統得以測量混合訊號、精密與標準類比半導體的所有關鍵參數。這些半導體廣泛應用於目前正高速成長的市場，包括車載電子。
同時配備高速、雙通道任意波形產生器與示波器的HF-AWGD模組，是包括16位元ADC與運算放大器等精密裝置在內，強而有力的分析工具。此模組在軟體方面採用直覺式設計，並擁有高速取樣技術，可選擇依照AWG模式（以波形檔案為基礎）或波形產生器模式（不使用波形檔案）來產生波形。AWG系統 -102dB的超低諧波失真，能成就極致精準度。此外，其大容量波形記憶體可以大量取樣，而內建示的波器則涵蓋寬廣的輸入範圍，再加上高類比頻寬，可滿足不同精準度和高速轉換器、無線基頻裝置的測量需求。
愛德萬測試常務執行董事Satoru Nagumo表示：「我們最新的HF-AWGD模組進一步擴大已獲市場肯定之EVA100測量系統的功能範圍，不僅操作設定更簡便，除錯、驗證作業也更快速，有助加快產品上市時程。對於結合類比與數位功能於單一IC上的智慧型裝置來說，採用整合式設計並且性能領先業界的EVA100，是滿足廠商測量需求的首選。此類智慧型裝置目前在感測、行動通訊和電源管理等各類應用上都有廣大的市場。」
愛德萬測試EVA100系統無論是針對設計還是產品的測量作業都採用相同的測試序列，客戶因此得以在整個作業過程中建立標準化的測量環境。由於半導體製造商再也不需要耗費時間與資源統合來自不同系統的測試資料，故能大幅縮短產品上市的時間。此外，EVA100系統採用訴諸直覺的圖形化輔助使用者操作介面（GUI），不需要複雜的程式語言。
HF-AWGD模組已獲愛德萬測試多個客戶實際採用，執行舉凡影像感測器、資料轉換器和其他裝置的測量作業。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
