愛德萬測試推出因應高解析度轉換器、消費性音頻IC與物聯網裝置測試需求之Wave Scale MX Channel Card
前言：
新通道卡提高既有V93000平台之高平行度及大量多元件同測能力
2017年6月21日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試為Wave Scale MX產品系列增添生力軍，推出高解析度、高精確度的混合訊號通道卡，擴大該系列於測試類比數位與數位類比波形轉換器的範疇。全新高解析度Wave Scale MX卡具備業界最高平行測試能力與最佳交流與直流效能。藉由這些特性，愛德萬測試V93000測試平台在測試類比數位波形轉換器時，得以滿足越來越嚴格的低失真，精確度和線性度需求，同時也有助縮減消費性音頻與物聯網裝置的測試成本及上市時間。
愛德萬測試產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「愛德萬測試最新高解析度Wave Scale MX卡擁有最高的通道數量與密度，能支援更廣的訊號範圍，也使音頻組件具備更高的輸出功率。」
該通道卡能為單端或差分信號提供多達32組高效能與完全獨立的交流與直流量測的能力，其中包括16組任意波形產生器(AWG)與16組的數位轉化器。該通道卡具備區域溫度控制的機制，確保直流量測維持最高穩定度，且單端訊號可參照各通道的接地感應線，以達到最完美的信號保真度。而且每個腳位均有一組參數測量單元(PMU)，可執行極精準的直流量測。此外，該通道卡支援單端訊號的振幅範圍最高達20 Vpp，差分訊號則可達40 Vpp。所有功能皆由Testprocessor軟體控制以達最大化的產出與量測重複性。
Wave Scale MX無資源共享的創新架構能在32組工具上有截然不同的設定且進行同步測試，除能滿足元件內部平行度的需求外進而能達到極高多元件同測效率，大幅降低複雜混合訊號的測試成本。愛德萬測試除了推出具備獨家高解析度資源的通道卡，也推出兼具高解析度與高速功能的Wave Scale MX混合卡。
愛德萬測試即日起受理高解析度與混合式Wave Scale MX卡的訂單。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
