Tektronix 推出適用於即時示波器的 PAM4 光學分析解決方案有效簡化了驗證挑戰
前言：
工程師可利用以即時示波器為基礎的解決方案進行 PAM4 光學裝置的重要除錯離線分析
2017年9月19日--全球領先的量測解決方案供應商--- Tektronix 今日推出全新的 DPO7OE1，這是一種可與即時示波器搭配使用的校準光學探棒和分析軟體 ，是相容於 28-GBaud PAM4 應用的光學參考接收器 (ORR)，並可支援 IEEE/OIF-CEI 標準特定量測。全新的解決方案補足了 Tektronix 的取樣示波器光學 PAM4 分析工具功能，為設計團隊提供了有效的測試解決方案，適用於光發射器工作流程的所有階段。
這款新產品以即時示波器 (如 PO70000SX) 為基礎，使研發和系統工程師可增加強大的除錯功能，更輕鬆地對其光學裝置進行疑難排解：PAM4 和 NRZ 的軟體時脈還原、觸發、錯誤偵測，以及擷取時間相關或連續的訊號記錄。
Maxim Integrated 高級研發總監 Jan Filip 表示：「像 PAM4 這樣的先進光學調變格式同時需具備取樣和即時示波器來進行系統測試。以即時示波器為基礎的全新解決方案使我們能為開發團隊提供關鍵的除錯回饋，並可使用離線 Matlab 演算法模擬先進的光學接收器系統。Tektronix 為我們的光學和 PAM4 測試要求提供了效能最佳的即時示波器偵測解決方案，是我們先進量測平台的策略合作夥伴。」
Maxim Integrated 是一間提供適用於資料中心應用的高速、低功耗光學裝置的製造商，對於以即時示波器為基礎的光學 PAM4 解決方案的價值有著深刻的體驗。
應用與分析套件
DPO7OE1 為 28-GBaud PAM4 除錯應用提供 33 GHz 光學頻寬，同時亦可用於舊型 NRZ 應用。分析套件支援包括 ER、AOP、OMA、眼圖高度和眼圖寬度等標準光學量測，以及包括 TDECQ 在內的 PAM4 IEEE 和 OIF-CEI 標準特定量測。
供貨情況
DPO7OE1 校準光學探棒和 PAM4 分析套件現在已可訂購。如需更多資訊，請造訪：tek.com/dpo7oe1。
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關於 Tektronix 公司
Tektronix 公司的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓，為全球的客戶提供創新、精確和易於操作的測試、量測和監控解決方案，以解決問題、提供深入的見解，並促進各種研發探索。70 年來，Tektronix 始終在數位時代中扮演著重要的角色。請造訪 www.tektronix.com.tw，加入我們的創新之旅。
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