Tektronix 為 400G PAM4 設計加速除錯作業
前言：
針對即時示波器推出業界首款 56 GBd 光學探棒
協助設計師縮短驗證週期，並減少產品上市時間
2018年3月14日--全球領先的量測解決方案供應商--- Tektronix 今日推出業界首款 56 GBd 400G PAM4 光學探棒，可與 Tektronix DPO70000SX 系列即時示波器搭配使用。加入去年推出的屢獲殊榮的 33 GHz DPO7OE1 陣容，全新的 59 GHz DPO7OE2 單模光學探棒可提供設計人員所需的效能和先進的除錯功能，以便疑難排解 400G PAM4 組件並縮短上市時間。
DPO7OE2 和 DPO7OE1 光學探棒及全套 Tektronix 100G/400G 光學表性分析和驗證解決方案即將在 OFC 光學網路和通訊會議以及本週在加州聖地牙哥 (San Diego) 舉辦的展覽會上展示。Tektronix 亦在活動中為其 DSA8300 等示波器推出了全新的 400G PAM4 光學模組 (請參閱個別發布資訊)。
與具有 NRZ 調變功能的 100G 相比，使用 PAM4 訊號的 400G 要複雜得多，並顯著拉長了設計驗證、除錯和疑難排解週期所需的時間。儘管 Tektronix 亦提供了 400G 等時 (取樣) 解決方案，但從 NRZ 向 PAM4 調變的移轉過程帶來了許多驗證和除錯難題，只有以即時示波器為基礎的解決方案才能解決這些挑戰。
Tektronix 高頻通訊總經理 Sarah Boen 表示：「切換到 400G 和 PAM4 在許多層面上都具有破壞性，其中最重要的是工程師競相將 400G 解決方案推向市場，他門將會面臨嚴峻的測試和驗證挑戰，我們提供了業界首款且僅有 56 GBd 即時解決方案和 PAM4 支援服務，正引領資料中心下一代高速網路的發展方向。」
DPO7OE2 為 56 GBd PAM4 提供 ORR (光學參考接收器) 效能，使工程師能夠更輕鬆、更快速地使用一整套強大的除錯功能來疑難排解光學裝置，包括適用於 PAM4 和 NRZ 的軟體時脈還原、觸發、錯誤偵測，以及擷取訊號的時間相關或連續記錄以供離線分析的能力。同時還具有同級產品中最佳的光學靈敏度和最低的雜訊，以適應低 PAM4 訊號雜訊比和通道效應。
DPO7OE2 同時亦可用於舊型 NRZ 應用。分析套件支援包括 ER、AOP、OMA、眼圖高度和眼圖寬度等標準光學量測，以及包括 TDECQ 在內的 PAM4 IEEE 和 OIF-CEI 標準特定量測。
供貨情況
DPO7OE2 光學探棒現已全球供貨。如需訂購資訊，請聯絡當地 Tektronix 業務代表。如需完整的解決方案詳細資料，請前往：https://tw.tek.com/wired-communications/400g-pam4-testing
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關於 Tektronix 公司
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