2018年4月4日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest Corporation)正式推出T5503HS2測試系統，專為現役最高速記憶體裝置，以及新世代超高速DRAM產品，提供業界最富成效的測試解決方案。在全球記憶體需求處於「超級循環」高速成長之際，其具備的靈活性，有助擴展T5503系列產品的測試能力。
此記憶體超級循環拜行動電子裝置與伺服器終端市場成長之賜。根據市調機構IHS Markit， 自2009年至今，Mobile DRAM於整體DRAM產業的市佔率已成長5倍以上。IHS Markit更預測，至2021年，來自行動電子、資料中心、汽車、博奕遊戲與顯示卡等各種資料處理應用所需要的DRAM總容量，將達到1,200億個Gbit記憶體。為了滿足此蓬勃成長的龐大需求，晶片製造商利用先進SDRAM技術，一舉開發DDR5與LP-DDR5記憶體，其資料傳輸率高達6.4Gbps。
愛德萬T5503HS2測試系統旨在兼顧新世代記憶體與既有裝置，提供測試解決方案，可測試時脈精確度為±45皮秒(picoseconds)，資料傳輸速度高達8Gbps的記憶體。此多功能測試系統共有16,256通道，用來測試新世代LP-DDR5與DDR5 SDRAM裝置時，可達到半導體業界最高平行測試數量，以及最佳成本效益，同時用戶仍可繼續測試現有的DDR4與LP-DDR4與高頻寬記憶體。此測試機台若選擇配備4.5-GHz高速時脈訊號產生器，便可擴展測試未來8Gbps以上資料傳輸率的記憶體晶片。
T5503HS2內建功能強大，而且是唯一用於支援新世代LP-DDR5、DDR5等高速記憶體裝置量產的高速測試平台。舉例來說，此測試機台可自動辨識與調整DQS-DQ差動時脈差異訊號，以確保即時追蹤取得更多時脈餘裕。此外，T5503HS2穩固的全新演算圖樣產生器(algorithmic pattern generator；ALPG)，可對先進記憶體裝置進行快速、高品質的功能評估。T5503HS2亦具備全新可編程電源供應器，反應速度較先前版本快4倍，大幅減少壓降的衝擊。
目前採用T5503測試機的用戶可選擇升級至全新T5503HS2測試系統，使生產設備在符合經濟效益之下，無縫接軌新世代記憶體裝置。
愛德萬測試執行副總裁Masuhiro Yamada表示：「愛德萬T5503HS2測試系統針對新世代記憶體晶片全速測試，展現業界最佳效能與精準度。此測試系統無與倫比的可擴充性與生產力，使其成為測試LP-DDR5、DDR5裝置的最迅速、最準確、最符合成本效益的系統。」
T5503測試系統的首批訂單預定於今年第二季開始出貨。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
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