2012 年 3 月 27 日－ 半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy)（Advantest Group 愛德萬集團（東京證交所：6857，紐約證交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進 V93000 Smart Scale™ 數位量測模組以及 Pin Scale測試機種之測試設備，進一步擴展雙方對於測試開發服務的合作關係。
雙方長遠結盟關係的最新計畫即為 ISE Labs 奧斯汀廠將開始採用惠瑞捷的 Pin Scale 技術開發先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性 IC 如智慧媒體晶片內建系統 (SOC) 設備，應用於下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝 L 級測試頭的 V93000 Pin Scale 測試機台，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及 800 數位量測模組下，具備超過 900 個數位信號腳位供測試。
此外，矽谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠，亦引進了兩台配備 Pin Scale 1600數位量測模組的 V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產的IC。其中一套系統使用 Pin Scale 1600 以及 9G 數位量測模組，有超過1,000 個腳位的 C 級測試頭；另一個系統則配備惠瑞捷最小的 A 級測試頭，配有 512 個數位量測腳位以及 MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級，提供增加數位量測腳數，或新增測量資源，如惠瑞捷的 Port Scale 射頻解決方案。ISE Labs 所採用的惠瑞捷 Smart Scale 技術，是矽谷測試服務供應商中的首創之舉。
ISE Labs工程與測試服務副總裁 Rabbi-ul Islam 表示 ：「我們對於與惠瑞捷的長期合作關係，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經認證的 Pin Scale 技術。」
惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁 Sanjeev Mohan 強調：「能獲得 ISE Labs 青睞，將新一代 Smart Scale 系統運用於技術開發以及商業測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業界領先的水準。」
惠瑞捷的可擴展 Smart Scale 測試系統以及數位信號量測模組，展現最具經濟效益的先進半導體設計測試，包括 28nm 技術節點及以下的 3D 堆疊與IC設計。
Pin Scale 1600 數位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用 per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。Per-pin功能包括獨立時脈網域、高精準度的直流電與業界領先的數位效能，都可以透過 Pin Scale 1600 進行強化。
惠瑞捷的 Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒 8Gb，符合成本的高速測試製具。高度多樣化的 Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。
MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組擴展即時類比頻寬以涵蓋持續衍生的應用，如長程演進技術進階版(LTE Advanced) 以及 4G 無線傳輸，在提供高效處理的同時，亦保有 MB-AV8 設備的相容性。
關於ISE Labs
ISE Labs, Inc. 為日月光半導體公司完全持有的子公司，也是全球最大的半導體封裝測試服務獨立供應商。ISE Labs 的統包作業方案具有廣泛的產品組合，提供多樣的服務，包括封裝設計與挑選、積體電路組裝、前端工程測試、晶圓針測、後端測試、設備驗證、可靠度測試、損壞分析、以及專案與物流管理。總公司位於加州費利蒙，是矽谷最大的半導體測試工程服務供應商，德州奧斯汀亦有營運廠房。如需了解更多資訊，請上www.iselabs.com
關於 Advantest Group 子公司惠瑞捷
惠瑞捷製造高階半導體測試系統，並為全球設計驗證、特性測試與大量生產測試領導企業提供作業方案。惠瑞捷開發測試先進晶片內建系統 (SOC) 測試方案、快閃記憶測試方案、高速記憶與多晶片封裝 (MCP) DRAM 等各式可擴充平台。惠瑞捷也提供先進分析工具，可加速設計偵錯及提升良率流程。如須瞭解更多 Advantest Group 子公司惠瑞捷相關資訊可查詢 www.verigy.com 。 如須瞭解 Advantest 資訊請查詢 www.advantest.com 。
