2012年6月11日--量測自動化的領導廠商 – 美商國家儀器( National Instruments, NI) 將於 6/19(二)~6/21(四) 參加 2012 年台北國際光電大展。此次參展， NI 將針對研發驗證到實際產線測試端，所需要的各種不同目的與需求，提出相對應的解決方案。展會現場， NI 同時將展出 LED 多點測試機台，展現 NI 產品於光電產業的高適用性。
以 LED 產業為例，NI 完整的模組化儀器產品線，能幫助客戶建置客製化的測試設備，完整滿足 R&D 端驗證測試的需求，同時利用 PXI 平台高彈性的優勢，搭配 Switch 模組，以及 TestStand 高效能自動排程軟體，即可將測試功能轉移到產線，進行快速生產測試。也因此從研發驗證測試到產線測試，NI 一直以來都是客戶最佳的選擇。
NI 歡迎所有業界先進在台北國際光電大展期間到 NI 攤位 (K 306) 一起共同切磋、討論，更期待能因為 NI 的方案，協助客戶邁向成功。
重點展示
l LED多點測試機台
此機台為使用業界標準量測平台 -- PXI，搭配多種不同 NI 模組化儀器，所設計完成的 LED 晶圓特性量測系統。能同時針對於多個 LED 進行測試，並輸出完整的測試報表，大幅降低產線上的生產時間與成本。
有關 NI 美商國家儀器
從 1976 以來，NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業，持續提供高效率的工具。NI 圖形化系統設計 (GSD)為軟、硬體的整合平台，可加速開發任何量測與控制系統。公司放眼於客戶、員工、股東、供應商的成功，以科技支援並改善目前的社會環境。
