2013年4月25日--半導體測試設備領導者愛德萬測試宣佈，與美國無線通訊系統層級測試自動化軟體開發商w2bi.com, Inc (以下簡稱W2BI，總部設於紐澤西州，現任總裁暨執行長為Derek DiPerna) 達成原則性併購協定。依此協定，W2BI將成為愛德萬測試美國子公司Advantest America, Inc旗下全資持股子公司。此宗併購案訂於2013年5月完成最後併購程序。
隨著LTE、GSM等多項頻寬行動通訊標準支援需求與日俱增，以及各種行動作業系統與應用軟體多元化發展，此併購案凸顯了行動裝置系統層級測試的重要性。越來越多廠商與電信業者已感受到智慧型手機和其他無線通訊裝置需在測試/研發階段進行實際環境模擬的必要性，且實際上，必須列入驗證的項目也不斷在增加，因此，行動裝置系統層級測試設備必須要能有助於提升行動通訊產品銷量，並滿足全球跨入LTE應用的需求，帶動市場強勁成長。
此併購案展現了愛德萬測試積極開拓新市場的策略性眼光，同時也讓該公司持續保有其在測試及量測領域數十年所累積的核心量測技術領先地位。愛德萬測試將藉此進一步跨入行動裝置系統層級測試設備市場， 並透過旗下全球銷售與支援網絡，提升其成長市場的獲利。展望未來，愛德萬測試將以其深受半導體測試市場肯定的解決方案，整合W2BI備受行動裝置系統層級測試市場信任的技術，發揮更大綜效。
此併購案預計對本期合併後財報不會有實質影響。
關於W2BI
W2BI是一家專為手機及其他通訊裝置開發自動化測試軟體和相關測試服務解決方案的供應商。該公司成立於1997年11月，在美國紐澤西州南平原鎮 (South Plainfield) 與印度清奈設有辦公室。進一步資訊請至公司網站www.w2bi.com/。
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
