2015年8月17日--全球積體電路開發管理服務領導者DA-Integrated宣佈，日前已完成安裝愛德萬測試V93000 Smart Scale™系統單晶片 (SoC) 測試系統。DA-Integrated選擇V93000 Smart Scale系統主要看中其效能與可擴充性，且其廣為晶圓封測代工廠採用，且能與既有P1000測試系統相容。P1000系統原為惠瑞捷旗下產品，該公司已於2011年由全球半導體產業最大自動化測試設備供應商愛德萬測試所併購。
DA-Integrated工程部副總裁Scott Bulbrook表示：「在DA-Integrated，我們提供獨一無二的測試開發服務，為客戶設計並導入測試架構與客製化的植入自我測試 (built-in self-test，BIST) 電路，滿足先進節點SoC元件測試需求。對我們來說，透過V93000 Smart Scale系統的SmarTest軟體，使我們的驗證環境緊密地與ATE測試程式整合，在V93000 Smart Scale系統上進行生產測試是絕佳的選擇。」
愛德萬測試SoC產品事業資深副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「我們與DA-Integrated已攜手合作數年，也成功地為半導體業者提供經實證的測試方案，解決其工程開發到大量生產的測試難題。DA-Integrated再次購置V93000平台，更進一步肯定了V93000平台所展現的先進效能。在結合DA-Integrated全方位IC設計與測試開發服務下，整套解決方案將可協助客戶加速產品上市時程，並以最低測試成本達到極高錯誤涵蓋率。」
關於DA-Integrated
DA-Integrated為提供積體電路開發與供應管理服務的全球領導者，其專業核心在於IC測試與製造，服務橫跨所有領域，包括IC設計、DFT、測試開發、供應管理與生產。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
