2020年5月18日--半導體測試領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 針對市場上需求不斷上升的作業頻率達8GHz之Wi-Fi 6E、5G-NR收發器、LTE-Advanced Pro以及IoT通訊裝置,隆重推出V93000平台新一代Wave Scale RF通道卡,最新V93000 Wave Scale RF8卡具備高度平行多元件同測及元件內部平行測試能力,能大幅減低測試成本,並加快最先進射頻 (RF) 半導體的上市時間,同時也為未來的5G-NR裝置測試打下基礎。
此產品之所以能實現優異的多元件同測能力,歸功於最高8 GHz的超廣作業頻率範圍和200 MHz調變頻寬。V93000平台能配置多達6張Wave Scale RF8卡,每張都具備32個雙向射頻埠,相當於能進一步擴充至192個射頻埠。
最新Wave Scale RF8卡配備有4套完整的射頻子系統,具有提供高產能的最佳化架構設計,每一套子系統都擁有獨立調變訊號源、混波器/數位轉換器、射頻S參數、選配的低相位雜訊本機振盪器,以及能在最短時間內執行多項射頻量測的測試處理器。Wave Scale RF8能提供非常快速的設定,頻率/功率切換時間低於600微秒,功率切換時間亦不到80微秒。此外,它還支援Wave Scale RF18與Wave Scale Millimeter測試系統。
愛德萬測試V93000事業單位總經理暨執行副總Jürgen Serrer表示:「在單一通道卡中具備多個獨立子系統的愛德萬測試Wave Scale RF8卡,專為降低新一代Wi-Fi 6E裝置生產成本、提升成本效益而設計,也預先為將來的5G和Wi-Fi通訊IC測試打開康莊大道。」
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商,旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外,愛德萬測試亦投入研發,解決接踵而來的測試挑戰應用,並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試,是在全世界都設有據點的國際企業,更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站:www.advantest.com。