Anritsu 安立知以機器學習實現 5G UE 毫米波 3D EIS 掃描測試時間最佳化
前言：
全新軟體選項透過自動化學習 UE 天線特性並提高測試效率
Anritu 安立知為其無線通訊綜合測試平台 MT8000A 推出「使用機器學習的 EIS-CDF 最佳化」MX800010A-026 全新軟體選項，透過機器學習 (Machine Learning) 實現最佳化的 5G 毫米波 (mmWave) 3D EIS 掃描 (EIS-CDF) 測試時間。
開發背景
隨著北美和日本等發達經濟體正加快推出快速連接 5G mmWave (FR2) 服務的步伐，mmWave 使用者設備 (UE) 的研發和一致性測試預計將在未來成為更活絡的市場。
3GPP 標準規定在 OTA (Over-the-Air) 測試環境中以 3D 測試 mmWave UE 天線特性。然而， 3D測試由於數量或測量點較多，需要花費較長的測試時間。
使用機器學習途徑得以大幅縮短這一漫長的測試時間，並可望最佳化 mmWave UE 的測試效率進而變得更普及。
產品特點
MX800010A-026 軟體選項支援使用 Anritsu 安立知的縮距天線量測場 (Compact Antenna Test Range；CATR) 電波暗室 MA8172A 進行 3D EIS 掃描測試，其方式是透過自動化學習 UE 天線特性，從而提高測試效率。使用相同的 UE 重複多次 3D EIS 掃描，有助於最佳化測試效率。
機器學習透過後續的重複學習，讓兩個 mmWave UE 模型的測試時間最佳化了大約 35% 至 60%*。
*此為案例之一，但不保證所有 UE 的結果相同。
產品概要
多合一的 MT8000A 平台支援射頻 (RF)、協議和應用操作測試，以及波束驗證和波束特性評估。MT8000A 除了具有開發 5G 晶片組和 UE 所要求的非獨立 (NSA) 和獨立 (SA) 模式基地台操作之模擬功能，還支援所有的 5G FR1 (600 MHz、2.5 GHz、3.5 GHz、4.5 GHz 和 6 GHz 免授權) 和 FR2 (24 GHz、28 GHz、39 GHz 和 43 GHz) 頻段。
CATR 電波暗室 MA8172A 使用符合 3GPP 標準的 CATR 方法，可在狹小空間中實施 5G NR OTA 測試。它可用於 5G NR 晶片組和 UE 的 mmWave 開發和一致性測試。
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關於 Anritsu
Anritsu 集團是創新通訊測試和測量解決方案的全球供應商，創建於 1895 年，目前是國際上最主要的量測儀器製造商之一。Anritsu 的理念是使客戶成為真正的合作夥伴，協助開發用於研發 (R&D) 、製造、安裝和維護應用的無線、光學、微波/射頻 (RF) 與數位解決方案，以及用於網路監控和最佳化的多方面服務保證解決方案。Anritsu 還為通訊產品及系統提供精密的微波/ RF 元件、光學元件與高速電子裝置，為 5G、M2M、IoT 以及其他新興及傳統有線和無線通訊市場開發先進的解決方案。Anritsu 的辦事處遍佈全世界，在全球 90 多個國家銷售產品，擁有大約 4,000 名員工。
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