全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 近日隆重推出MTe功率測試平台，以最先進的技術重新定義測試效率與可擴充性，以滿足快速成長的功率半導體市場之測試需求。
隨著汽車、工業、再生能源、電信及資料基礎設施等應用領域的電動化需求持續上升，半導體製造商正致力於實現更高性能與更低的測試成本 (CoT)。MTe平台透過模組化硬體架構、極致的系統可擴展性以及先進的數位控制，全面回應業界需求，重新定義功率半導體測試的效能與效率標準。
愛德萬測試集團旗下CREA公司總經理 Fabio Marino指出：「MTe 的設計理念體現了我們的願景──藉由具備可擴展性、彈性與永續性，讓測試變得更簡單。我們為客戶提供一套統一的測試解決方案，這套方案可隨生產需求而演進，協助客戶從研發階段到量產階段無縫接軌，確保最高的效能與可靠性。」
MTe平台採用愛德萬測試最先進技術打造，在不犧牲效能的前提下大幅縮小設備佔地並最佳化資源分配，這也是吸引主要IDM與OSAT廠商導入的關鍵優勢。MTe平台不僅能應對新興寬能隙半導體 (譬如SiC與GaN) 的測試挑戰，更能實現數位IP核心於功率元件 (譬如IPM與IPD) 的整合，提供高頻寬擷取、業界頂尖的閘極驅動器控制、高達10kA的動態 (及短路) 測試能力，以及靈活的高壓數位功能。
秉持愛德萬測試提供可擴充測試平台的傳統，MTe採用分散式運算架構，可大幅提升多站點測試效率，實現高並行測試解決方案並優化整體產出率。MTe平台現已於全球上市，經汽車及工業功率應用領域客戶初步評價，相較於傳統測試設備，MTe在生產力與測試吞吐量方面皆有顯著提升。
編按：
IP：智慧財產 (Intellectual Property)
IDM：整合元件製造商 (Integrated Device Manufacturer)
OSAT：專業封測代工 (Outsourced Semiconductor Assembly & Test)
SiC：碳化矽 (Silicon Carbide)
GaN：氮化鎵 (Gallium Nitride)
IPM：智慧功率模組 (Intelligent Power Module)
IPD：整合式功率元件 (Integrated Power Device)
關於愛德萬測試
愛德萬測試於1954年創立於日本東京，為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI)、機器學習等高效能運算 (HPC)，其領先業界的系統和產品獲廣大客戶青睞整合至世界各地最先進的半導體生產線。公司亦持續投入研發，致力於解決新興測試挑戰，並開發晶圓分類與最終測試所需的高階測試介面解決方案；生產光罩製造所需的掃描式電子顯微鏡；同時提供系統層級測試解決方案及其他相關配件。愛德萬測試是一家全球化企業，足跡遍及世界各地，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。
欲瞭解更多資訊請上愛德萬測試官網www.advantest.com 。
